一、控制原理 多數(shù)通用變頻器都能實現(xiàn)不同的條件運行不同的頻率。這在富士5000G11S/P11S系列變頻器中稱為多步頻率運行，在ABBACS510-01系列變頻器中稱為恒速運行。液位...
時間：2012-08-07 閱讀：3372 關鍵詞：用液位控制器控制變頻器工作頻率液位控制器變頻器延時控制
一、引言 惡劣條件下工作的集成電路(IC)不斷將越來越多的功能合并，這就需要改進器件與電路設計策略，以便提升魯棒性，并盡可能縮減IC面積。由于受到更嚴格的設計、封裝...
時間：2012-08-01 閱讀：2940 關鍵詞：適合汽車級靜電放電應用的雙向器件靜電放電電磁干擾雙向器件
要點 1.現(xiàn)在，除了高端智能手機和平板電腦以外，用戶還期望在其它應用中使用觸摸屏，它們正逐步現(xiàn)身于汽車和儀器中?！ ?.在電容式觸摸屏與較廉價但響應不快的電阻觸摸...
IC外觀檢測常見要求：關鍵點：絲印、主體、管腳絲印要求：清晰、完整、正確、位置統(tǒng)一、字體規(guī)則、logo規(guī)范、模號及產(chǎn)地凹印、PIN1明顯主體要求：尺寸規(guī)范、裂痕、殘缺、刮傷、溢膠、變形、漏底材等符合標準管腳要求...
時間：2012-07-05 閱讀：6714 關鍵詞：IC外觀檢測，元器件外觀檢測常見要求AAA3A外觀檢測
摘搖要：通過對二極管的反向恢復過程及相關應用的研究，指出二極管反向恢復時間測試的必要性，綜合比較了三種現(xiàn)有的反向恢復時間的測試方法的優(yōu)缺點，提出并設計了一個測量...
時間：2012-03-15 閱讀：12403 關鍵詞：高壓二極管的反向恢復時間測試系統(tǒng)
現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導致一部分或幾個部分不能正常工作，影響設備的正常使用。那么如何檢測集成電路的好壞呢？通常一臺設備里面有許多個集成電路，當拿到一部有故障的集成電路的設備時，首先要...
時間：2011-09-16 閱讀：6358 關鍵詞：集成電路故障檢測方法介紹集成電路
精彩無限，盡在維庫技術資料 m.58mhw.cn/data 摘要：文中介紹了測量電容式傳感器電容的一般方法，并針對AMG公司開發(fā)的電容式信號轉換成電壓信號的集成電路CAV424 作了...
時間：2011-09-08 閱讀：4216 關鍵詞：用于電容傳感器信號轉換的集成電路CAV424電容傳感器
設計電子電路時除關心電路的主要性能指標外，針對具體情況可能還會提出一些其它指標。比如設計放大電路時，除了關注它的五種主要性能指標（輸入電阻、輸出電阻、增益、頻率響應和非線性失真系數(shù)）外，針對不同用途的...
時間：2011-09-08 閱讀：1853 關鍵詞：設計電子電路的性能指標電子電路
自從美國Intel公司1971年設計制造出4位微處理器芯片以來，在20多年時間內，CPU從Intel4004、80286、80386、80486發(fā)展到Pentium和PentiumⅡ，數(shù)位從4位、8位、16位、32位發(fā)展到64位；主頻從幾兆到今天的
時間：2011-09-01 閱讀：3573 關鍵詞：集成電路
1TTL電平：輸出高電平>2.4V,輸出低電平<0.4V。在室溫下，一般輸出高電平是3.5V，輸出低電平是0.2V。最小輸入高電平和低電平：輸入高電平>=2.0V，輸入低電平<=0.8V，噪聲容限是0.4V。2CMOS電平：
時間：2011-08-22 閱讀：1364 關鍵詞：TTL與CMOS相關知識TTL與CMOS
摘要：集成電路（IC）老化測試插座（以下簡稱老化測試插座）主要應用于集成電路產(chǎn)品的檢測、老化、篩選等場合，其的用戶是集成電路器件制造廠。本文對集成電路老化測試插座...
摘要：時鐘數(shù)據(jù)恢復（CDR）電路是高速數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的重要組成部分。文章介紹了一種半數(shù)字二階時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的基本結構、工作原理和設計方法，并進行了仿真和驗證，結果...
時間：2011-07-25 閱讀：14833 關鍵詞：應用于高速串行收發(fā)器的CDR電路的設計
摘 要： 集成電路靜電放電模擬器是微電子元器件可靠性篩選的重要設備，通過模擬靜電放電對器件的抗靜電能力進行篩選。本文在分析靜電放電模擬器工作原理的基礎上，利用高頻...
時間：2011-07-25 閱讀：10590 關鍵詞：集成電路靜電放電模擬器校準與測量不確定度
眾所周知，傳統(tǒng)的IC設計流程通常以文本形式的說明開始，說明定義了芯片的功能和目標性能。IC設計，Integrated Circuit Design，或稱為集成電路設計，是電子工程學和計算機...
時間：2011-07-22 閱讀：2457 關鍵詞：全新的深亞微米IC設計方法
美國國家半導體公司（National Semiconductor Corp.）（美國紐約證券交易所上市代碼：NSM）宣布推出兩款可配置的傳感器模擬前端（AFE）集成電路，兩款產(chǎn)品采用美國國家半導...
時間：2011-07-21 閱讀：7244 關鍵詞：NS 推出可配置的傳感器模擬前端（AFE）解決方案
光電耦合器廣泛應用于可編程序控制器、變頻器、家用電器、工業(yè)生產(chǎn)等各個行業(yè)的電子裝置中，其作用眾所周知：信號的隔離、耦合傳輸，對電子裝置高壓系統(tǒng)電路發(fā)生故障，不會...
時間：2011-07-21 閱讀：9081 關鍵詞：簡易光耦芯片測試電路TLP621TLP6214
