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電子測量

如何測量LDO噪聲

噪聲分為兩類:內(nèi)部噪聲和外部噪聲。內(nèi)部噪聲是不可避免的,每個電子設(shè)備都會產(chǎn)生內(nèi)部噪聲。LDO 由理想的源供電,這意味著它不受外界影響,因此在輸入端沒有外部噪聲 (雖然 LDO 在輸出端確實有內(nèi)部噪聲)。外部噪聲是...

分類:電子測量 時間:2023-04-12 閱讀:633 關(guān)鍵詞:LDO

先進 HEV/EV 電池管理系統(tǒng)的測試解決方案

在一個試點項目中,Comemso 和德州儀器 (TI) 演示了如何使用 comemso BMS 測試系統(tǒng)完全創(chuàng)建和評估基于德州儀器開發(fā)平臺的電池管理系統(tǒng) (BMS)。新的圖形界面使開發(fā)人員能夠操作從單一角度審視 TI 電動汽車 (EV) BMS ...

分類:電子測量 時間:2023-04-11 閱讀:813 關(guān)鍵詞: HEV/EV 電池

電阻式電流檢測:低側(cè)與高側(cè)檢測

電阻式電流檢測在處理低到中等電流水平時,電阻式電流感測廣泛用于印刷電路板組件。使用這種技術(shù),將已知電阻器 R shunt與負載串聯(lián)放置,并測量電阻器兩端產(chǎn)生的電壓以確定負載電流。如圖 1 所示。 圖1 電流檢測電阻...

分類:電子測量 時間:2023-04-10 閱讀:585 關(guān)鍵詞:電流檢測

針對高壓應(yīng)用優(yōu)化寬帶隙半導(dǎo)體器件

自從寬帶隙材料被引入各種制造技術(shù)以來,通過使用MOSFET、晶閘管和 SCR等功率半導(dǎo)體器件就可以實現(xiàn)高效率。為了優(yōu)化可控制造技術(shù),可以使用特定的導(dǎo)通電阻來控制系統(tǒng)中的大部分功率器件。對于功率 MOSFET,導(dǎo)通電阻...

分類:電子測量 時間:2023-04-07 閱讀:685 關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體器件

新型 MPLAB 碳化硅功率仿真器使客戶能夠在設(shè)計階段測試 Microchip 的碳化硅功率解決方案

電力電子產(chǎn)品在日常生活的許多領(lǐng)域都在市場上迅速擴張。由于這種材料在速度、效率和耐高溫性方面的出色性能,越來越多的電力電子設(shè)備使用SiC 半導(dǎo)體制造。電源設(shè)計人員大量...

分類:電子測量 時間:2023-06-20 閱讀:4067 關(guān)鍵詞: MPLAB 碳化硅

電容式加速度計簡介:使用電容式傳感測量加速度

加速度計可用于不同的應(yīng)用領(lǐng)域。例如,在汽車應(yīng)用中,加速度計用于激活安全氣囊系統(tǒng)。相機使用加速度計來主動穩(wěn)定圖片。計算機硬盤驅(qū)動器還依靠加速度計來檢測可能損壞設(shè)備讀/寫磁頭的外部沖擊。在這種情況下,加速...

分類:電子測量 時間:2023-04-07 閱讀:735 關(guān)鍵詞:電容

使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器的比例電阻測量基礎(chǔ)知識

A/D 轉(zhuǎn)換器是比率式的,也就是說,它們的結(jié)果與輸入電壓與參考電壓的比值成正比。這可用于簡化電阻測量。測量電阻的標(biāo)準(zhǔn)方法是讓電流通過電阻并測量其壓降 (見圖 1)。然后,歐姆定律(V = I x R) 可用于計算電壓和...

分類:電子測量 時間:2023-04-04 閱讀:469 關(guān)鍵詞:電阻測量

RTD 基礎(chǔ)知識——電阻溫度檢測器簡介

電阻溫度檢測器或 RTD 可能是最簡單的溫度傳感器類型。這些設(shè)備的工作原理是金屬的電阻隨溫度變化。純金屬通常具有正的電阻溫度系數(shù),這意味著它們的電阻隨溫度升高而增加。RTD 可在 -200 °C 至 +850 °C 的較大溫...

分類:電子測量 時間:2023-04-03 閱讀:769 關(guān)鍵詞:電阻測量

如何使用 FPGA 測試 PLL 頻帶校準(zhǔn)算法

將受控振蕩器所需的頻率調(diào)諧范圍分成離散頻帶是一種常用技術(shù)。擁有多個頻段的優(yōu)勢在于可以覆蓋較寬的調(diào)諧范圍,同時在每個頻段內(nèi)保持相對較低的壓控振蕩器 (VCO) 增益。低 VCO 增益有利于實現(xiàn)低 VCO 相位噪聲。要求...

分類:電子測量 時間:2023-03-28 閱讀:523 關(guān)鍵詞: FPGA 測試

數(shù)字可編程電阻器用作測試負載

圖示了一個數(shù)字可編程的精密電阻,該電阻可在定制設(shè)計的ATE(自動測試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動的電源負載。一個8位電流輸出DAC、IC1 ,DAC08,驅(qū)動電流-電壓轉(zhuǎn)換器IC2一 ,進而驅(qū)動功率MOSFET Q的柵極1 .被測器件連...

分類:電子測量 時間:2023-03-27 閱讀:547 關(guān)鍵詞:電阻器

PSoC 微控制器和 LVDT 測量位置

將LVDT(線性可變差動變壓器)連接到微控制器可能具有挑戰(zhàn)性,因為LVDT需要交流輸入激勵和交流輸出測量來確定其可移動磁芯的位置(參考文獻 1 ).大多數(shù)微控制器缺乏專用的交流信號生成和處理能力,因此需要外部電路...

分類:電子測量 時間:2023-03-27 閱讀:488 關(guān)鍵詞:PSoC 微控制器

檢測帶電的交流電源線

工業(yè)控制應(yīng)用通常使用在 24V 邏輯電平下工作的 PLC(可編程邏輯控制器)。該電壓對安全使用微控制器提出了挑戰(zhàn)。這種設(shè)計需要在微控制器和 24V 信號之間建立物理屏障,以避免在出現(xiàn)錯誤或短路時造成損壞。使用微控制...

分類:電子測量 時間:2023-03-25 閱讀:588 關(guān)鍵詞:微控制器接口

測量小電流而不增加電阻插入損耗

在大多數(shù)情況下,您通過將電流轉(zhuǎn)換為成比例的電壓然后測量電壓來測量電流。圖 1 顯示了進行轉(zhuǎn)換的兩種典型方法。在一種方法中,您插入一個與電流路徑串聯(lián)的探測電阻器 R P ,并使用差分放大器 IC 1 測量產(chǎn)生的電壓降...

分類:電子測量 時間:2023-03-25 閱讀:348 關(guān)鍵詞:電阻

使用單個施密特測量兩個電阻傳感器或多個開關(guān)

許多從我們周圍世界捕獲信息的傳感器都是電阻式的。一些示例是 NTC、PTC、LDR 和接觸式傳感器。如果我們將傳感器的電阻轉(zhuǎn)換為頻率或脈沖持續(xù)時間,則大多數(shù) MCU 都可以測量這些參數(shù),而無需 ADC。 圖 1 具有施密特...

分類:電子測量 時間:2023-03-23 閱讀:533 關(guān)鍵詞:傳感器

帶低壓晶體管的高壓電流檢測

由于專用集成電路的可用性,電流監(jiān)測變得更加簡單。電流監(jiān)測集成電路很容易獲得,并且在大多數(shù)情況下都表現(xiàn)出色,各種儀表放大器也是如此,因此使用分立器件構(gòu)建電流監(jiān)測器似乎是多余的,但在某些情況下,使用分立元...

分類:電子測量 時間:2023-03-23 閱讀:442 關(guān)鍵詞:堿性電池

電路檢測快速下降的信號并抑制噪聲

檢測超過某個閾值的快速下降信號對于超聲波或定位設(shè)備以及地震學(xué)系統(tǒng)很重要。您可以將軌到軌運算放大器與施密特觸發(fā)邏輯門組合起來以執(zhí)行此功能(圖 1)。這個例子在超聲波機器上運行良好。它控制一個采樣保持放大器...

分類:電子測量 時間:2023-03-21 閱讀:341 關(guān)鍵詞:信號

使用分立元件檢測汽車高側(cè)電流

這個設(shè)計理念的產(chǎn)生是因為我無法接觸到那些感應(yīng)電流的出色新 IC。我需要一個可以輕松構(gòu)建但仍與新 IC 一樣準(zhǔn)確的分立電路。這個電路似乎可以完成這項工作。Q 2 是第一個電流放大器;它又具有 6.2(圖 1)。Q 1是由 I...

分類:電子測量 時間:2023-03-21 閱讀:389 關(guān)鍵詞:檢測汽車高側(cè)電流

通過避免超速和欠速測試來最大限度地減少良率影響

在用于汽車 SoC 的納米技術(shù)中,硅上的大多數(shù)缺陷都是由于時序問題造成的。因此,汽車設(shè)計中的全速覆蓋要求非常嚴(yán)格。為了滿足這些要求,工程師們付出了很多努力來獲得更高的實速覆蓋率。主要挑戰(zhàn)是以盡可能低的成本...

分類:電子測量 時間:2023-03-20 閱讀:497 關(guān)鍵詞:汽車

熱電偶的基本原理

熱電偶就提供了關(guān)鍵的溫度測量,尤其是在非常高的溫度下。對于許多工業(yè)和過程關(guān)鍵型應(yīng)用,T/C 和RTD(電阻溫度檢測器)都已成為溫度測量的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。盡管 RTD 具有更好的精度和可重復(fù)性,但熱電偶的相對優(yōu)勢包括...

分類:電子測量 時間:2023-03-15 閱讀:489

解決 MIPI M-PHY 連接挑戰(zhàn)以實現(xiàn)更高效的測試

隨著行業(yè)轉(zhuǎn)向采用MIPI 聯(lián)盟的 M-PHY 標(biāo)準(zhǔn),設(shè)計人員正面臨一些與示波器測量相關(guān)的重大挑戰(zhàn),更具體地說,是探測。這些挑戰(zhàn)包括嚴(yán)格的要求,例如總線端接和輸入回波損耗,以及需要最大限度地減少被測設(shè)備 (DUT) 上的...

分類:電子測量 時間:2023-03-14 閱讀:695 關(guān)鍵詞:MIPI M-PHY

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