PCB測(cè)試治具是批量檢測(cè)線路板電氣性能、篩選不良品的核心工具，能大幅提升測(cè)試效率、保證測(cè)試精度，替代人工手動(dòng)測(cè)試的繁瑣與誤差。常見測(cè)試治具類型多樣，選型不當(dāng)或使用不規(guī)范，易導(dǎo)致測(cè)試誤判、治具損壞、PCB損傷...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2026-01-30 閱讀：275
作為“電子產(chǎn)品之母”的PCB板，是整個(gè)電子產(chǎn)品產(chǎn)業(yè)鏈中關(guān)鍵的基礎(chǔ)性環(huán)節(jié)。而作為PCB的生產(chǎn)材料，更是基礎(chǔ)中的基礎(chǔ)，可以說是現(xiàn)代電子工業(yè)這座大廈的砂石。隨著物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)，5G通信以及汽車電子等下游應(yīng)用的快速發(fā)展，...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2022-05-18 閱讀：856 關(guān)鍵詞：PCB測(cè)試
基于PXI和PCI硬件的PCB測(cè)試系統(tǒng)解決方案
解決方案:結(jié)合NIPXI與PCI硬件，使用NITestStand和LabVIEW軟件來開發(fā)一個(gè)用于測(cè)試印刷電路板和太陽能逆變器的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)。"通過使用全部來自NationalInstruments的開發(fā)工具，我們開發(fā)了一套個(gè)完整的解決方案，涵蓋...
分類：其它 時(shí)間：2010-09-19 閱讀：1632 關(guān)鍵詞：基于PXI和PCI硬件的PCB測(cè)試系統(tǒng)解決方案RS232RS485PCI硬件PCB測(cè)試
目前隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn),相應(yīng)的PCB的安裝和測(cè)試工作已越來越困難。雖然印制電路板的測(cè)試仍然使用在線測(cè)試技術(shù)這一傳統(tǒng)方法,但是這種方法由于芯片的小型化及封裝而變得問題越來越多。現(xiàn)在一種新的...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2009-07-28 閱讀：3916 關(guān)鍵詞：一種新的PCB測(cè)試技術(shù)PCB
治具的制作要根據(jù)實(shí)際的情況選用適當(dāng)?shù)牟牧?，這樣可大幅度的降低成本,同時(shí)通用可重復(fù)使用的底座也可大幅度的降低成本,并且使治具制作標(biāo)準(zhǔn)化方便制作,提高治具的質(zhì)量。,測(cè)試架中測(cè)試針及相關(guān)材料的選用對(duì)測(cè)試治具的好...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2008-04-14 閱讀：3313 關(guān)鍵詞：如何選擇制作PCB測(cè)試治具材料
JTAG推出有助于PCB測(cè)試和系統(tǒng)內(nèi)編程的工具
JTAGTechnologies推出有助于加速并簡(jiǎn)化基于IEEE1149.x標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描的工具JTAGProVision，該工具可幫助工程師用最少的時(shí)間實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)內(nèi)編程。ProVision的應(yīng)用程序向?qū)в兄谟脩魷?zhǔn)備測(cè)試和系統(tǒng)編程應(yīng)用程序。圖形化工
分類：電子測(cè)量 時(shí)間：2007-12-20 閱讀：2465 關(guān)鍵詞：JTAG推出有助于PCB測(cè)試和系統(tǒng)內(nèi)編程的工具
隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)例子。電子元件的布線設(shè)計(jì)方式，對(duì)以后制作流程中的測(cè)試能否很...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2007-12-15 閱讀：2148 關(guān)鍵詞：PCB測(cè)試與設(shè)計(jì)規(guī)程
基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)
摘要：為了提高PCB測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度，簡(jiǎn)化電路板的設(shè)計(jì)，提高系統(tǒng)的可重構(gòu)性和測(cè)試算法移植的方便性，提出了一種基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。設(shè)計(jì)中選用Altera公司的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)EP1K50，...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2007-09-25 閱讀：3166 關(guān)鍵詞：基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)TESTTLV5618EP1K50
現(xiàn)代PCB測(cè)試的策略隨著自動(dòng)測(cè)試設(shè)備成為電子裝配過程整體的一部分，DFT必須不僅僅包括傳統(tǒng)的硬件使用問題，而且也包括測(cè)試設(shè)備診斷能力的知識(shí)。為測(cè)試著想的設(shè)計(jì)(DFT,designfortest)不是單個(gè)人的事情，而是由設(shè)計(jì)工...
分類：PCB技術(shù) 時(shí)間：2007-04-29 閱讀：1505 關(guān)鍵詞：現(xiàn)代PCB測(cè)試的策略2000
