1. +B電源過流保護(hù)

　　該電路由取樣電路V404（PNP三極管）和R920（0.68Ω）、分壓電阻R432（39 kΩ）、R433（10 kΩ）和VD422（12 V穩(wěn)壓二極管）等元件組成。

　　R920 是行電流取樣電阻，當(dāng)行電流正常時(shí)，R920上的電壓降較小，V404 截止，對保護(hù)電路不產(chǎn)生影響；當(dāng)行電路發(fā)生故障而電流增加過大時(shí)，R920 上的電壓降隨之增加，使V404 導(dǎo)通；當(dāng)導(dǎo)通電流在分壓電阻R433 上的電壓降大于12 V 時(shí)，VD422 擊穿導(dǎo)通，將該電壓通過R619 加到V404 的基極，V404 飽和導(dǎo)通，將微處理器40腳（INT4）的電壓拉低，微處理器據(jù)此進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)（參見上期圖1）。

　　2. 場過流保護(hù)

　　該電路由取樣電路V406（PNP 三極管）和R434（1 Ω）、分壓電阻R438（1.5 kΩ）、R439（47 kΩ）和VD423（11 V穩(wěn)壓二極管）等元件組成。R434 是場輸出電流取樣電阻，當(dāng)場輸出級電流正常時(shí)，R434 上的電壓降較小，而V406 截止，對保護(hù)電路不產(chǎn)生影響；當(dāng)場電路發(fā)生故障電流增加時(shí)，R434 上的電壓降隨之增加使V406 導(dǎo)通；當(dāng)導(dǎo)通電流在分壓電阻R439 上的電壓降大于11 V時(shí)，VD423 擊穿導(dǎo)通，將該電壓通過R619 加到V404 的基極，使V404 飽和導(dǎo)通，將微處理器40腳的電壓拉低，微處理器據(jù)此進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)（參見上期圖1）。

　　3. 行輸出過壓保護(hù)

　　該電路由分壓電阻R429、R426 和穩(wěn)壓二極管VD417 組成，對行掃描變壓器④～⑥繞組經(jīng)VD413 整流、C411 濾波后，輸出的“二次”電壓進(jìn)行檢測（間接對行輸出的所有電壓進(jìn)行了檢測），必要時(shí)實(shí)施保護(hù)。

　　當(dāng)行逆程電容開路、電源供給電壓升高等原因，造成行輸出電壓升高、束電流過大時(shí)，該電壓也隨之增加，增加到使分壓電阻R426 上的電壓達(dá)到8.2 V 以上時(shí)，VD417 擊穿導(dǎo)通，將該電壓通過R619 加到V613 的基極，微處理器進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)（參見上期圖1）。

　　4. 低壓失壓保護(hù)

　　該電路直接接在微處理器的輨輮訛?zāi)_，由二極管VD622、VD624、VD625 組成，對9 V、25 V、5 V 電壓進(jìn)行監(jiān)測。當(dāng)被檢測的電壓，因整流電路、負(fù)載電路故障而失落時(shí)，該二極管導(dǎo)通，將微處理器的40腳電壓拉低，微處理器進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)（參見上期圖1）。

　　二、保護(hù)電路維修技巧

　　該機(jī)進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)時(shí)，整機(jī)出現(xiàn)“三無”現(xiàn)象，指示燈亮。由于開關(guān)電源、行輸出、微處理器、保護(hù)電路發(fā)生故障均會(huì)產(chǎn)生“三無”故障。檢修時(shí)，首先要區(qū)分是哪個(gè)電路引起的“三無”故障，逐步縮小故障范圍，對相應(yīng)的電路進(jìn)行檢修。

　　檢修時(shí)，如果關(guān)機(jī)前能觀察到故障現(xiàn)象，可根據(jù)觀察到的故障現(xiàn)象判斷故障范圍，對相應(yīng)的電路進(jìn)行直接檢修。

　　如果開機(jī)即發(fā)生故障，應(yīng)首先確定是否進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)，方法是：測量開關(guān)電源輸出的電壓，如果開關(guān)電源輸出電壓為正常高電壓，則是行輸出電路故障；如果開關(guān)電源輸出電壓下降既可能是開關(guān)電源和行輸出電路故障，也可能是進(jìn)入待機(jī)或保護(hù)狀態(tài)，區(qū)分的方法是：測量微處理器（CPU）的20腳（開/ 關(guān)機(jī)控制端）電壓，如果CPU 20腳電壓為高電平開機(jī)狀態(tài)，則是開關(guān)電源和行輸出電路故障；如果CPU 20腳電壓為低電平待機(jī)狀態(tài)，并且開關(guān)電源輸出電壓為正常時(shí)的1/3，則是進(jìn)入待機(jī)或保護(hù)狀態(tài)。

　　進(jìn)入待機(jī)或保護(hù)狀態(tài)既可能是微處理器和開/ 關(guān)機(jī)控制電路本身故障，也可能是進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)，區(qū)分微處理器故障和保護(hù)電路啟動(dòng)的方法是：測量進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)前微處理器輨輮訛?zāi)_的瞬間電壓，如果待機(jī)前輨輮訛?zāi)_的電壓為低電平，則是進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)，否則是微處理器和開/ 關(guān)機(jī)電路發(fā)生故障。

　　由于四種保護(hù)電路進(jìn)入保護(hù)時(shí)都是將微處理器的中斷口電壓拉低，故微處理器進(jìn)入保護(hù)性待機(jī)狀態(tài)。區(qū)分是哪路保護(hù)進(jìn)入保護(hù)？常態(tài)的方法，是可采用“瞬間電壓測量法”和“斷開保護(hù)電路法”，來觀察故障現(xiàn)象并進(jìn)行判斷檢修。

　　1. 瞬間電壓測量法

　　在進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)的瞬間測量V613 的基極電壓，如果有0.7 V 左右的上升電壓，則是行/ 場過流、過壓保護(hù)電路發(fā)生故障；否則是低壓失落保護(hù)電路啟動(dòng)。

　　如果是低壓保護(hù)電路啟動(dòng)，測量各檢測二極管VD622、VD624、VD625 的負(fù)極電壓，如果哪路二極管的負(fù)極電壓為0 V，或該二極管導(dǎo)通，則是該電路發(fā)生故障；如果是行/ 場過流、過壓保護(hù)電路啟動(dòng)，可在進(jìn)入保護(hù)前的瞬間測量各路保護(hù)電路的分壓電阻R433、R439、R426 上的電壓，如果哪個(gè)電阻上的電壓超過保護(hù)值（R433 上的保護(hù)電壓為12 V、R439 上的保護(hù)電壓為11 V、R426 上的保護(hù)電壓為8.2 V），則是該電路引起的保護(hù)。可對該保護(hù)電路和該保護(hù)電路檢測的電路進(jìn)行檢修。

　　2. 斷開保護(hù)電路法

　　如果確定是進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)，可在確定開關(guān)電源電壓正常和行輸出、場輸出電路無明顯短路故障之后，采取全部或逐個(gè)斷開保護(hù)電路，觀察故障現(xiàn)象的方法，根據(jù)故障現(xiàn)象，進(jìn)一步確定故障范圍，對相應(yīng)的電路進(jìn)行檢修。

　　全部斷開保護(hù)電路的方法是：斷開CPU輨輮訛?zāi)_的外圍電路，保留上拉電阻R623；逐個(gè)斷開保護(hù)電路的方法是：行過流保護(hù)電路斷開VD422、場過流保護(hù)電路斷開VD423、行過流保護(hù)電路斷開VD417。如果斷開保護(hù)電路后，一切正常，則是保護(hù)電路本身發(fā)生故障。

　　三、保護(hù)電路維修實(shí)例

　　例1：康佳P2592N 彩電，剛開機(jī)時(shí)圖像和伴音正常，幾分鐘后，光柵逐漸擴(kuò)大，出現(xiàn)回掃線，然后自動(dòng)關(guān)機(jī)。

　　分析與檢修：自動(dòng)關(guān)機(jī)很可能是由于過壓、過流引起保護(hù)造成的。光柵擴(kuò)大，一是電源電壓不穩(wěn)定：二是行掃描輸出的顯像管陽極高壓降低；三是視放電路發(fā)生故障，造成束電流變化過大。在開機(jī)正常收看時(shí)，測量開關(guān)電源輸出電壓正常，且穩(wěn)定不變；測量視放電路供給電壓，剛開機(jī)時(shí)為200 V 正常，幾分鐘后，逐漸下降，光柵亮度增加，出現(xiàn)回掃線，然后關(guān)機(jī)。

　　自動(dòng)關(guān)機(jī)后，測量微處理器的（CPU）20腳（開/ 關(guān)機(jī)控制端）電壓為待機(jī)狀態(tài)，分析由于視放供給電壓的降低，造成束電流過大，行電流隨之增加，進(jìn)入行過流保護(hù)狀態(tài)。檢查視放電路電源，發(fā)現(xiàn)整流二極管VD416漏電，反向電阻冷態(tài)時(shí)為200 kΩ，受熱逐漸減小到5kΩ 左右。更換VD416 后，故障排除（參見上期圖1）。

　　例2：康佳P2592N 彩電，剛開機(jī)時(shí)，有圖像和伴音，數(shù)分鐘后，關(guān)機(jī)。

　　分析與檢修：觀察關(guān)機(jī)前的故障現(xiàn)象，發(fā)現(xiàn)有圖像和伴音時(shí)， 光柵下部卷邊，估計(jì)是場掃描電路發(fā)生故障，造成場過流保護(hù)。有圖像和伴音時(shí)測量場保護(hù)電路分壓電阻R426 上的電壓，接近保護(hù)啟動(dòng)值（7.6 V），然后逐漸增加進(jìn)入保護(hù)。檢查場掃描電路，發(fā)現(xiàn)場輸出電容漏電。更換場輸出電容后，卷邊故障消失，不再保護(hù)關(guān)機(jī)。

　　例3：康佳P2592N 彩電，剛開機(jī)時(shí)，有圖像和伴音，數(shù)分鐘后，關(guān)機(jī)。

　　分析與檢修：仔細(xì)觀察關(guān)機(jī)前的故障現(xiàn)象，開機(jī)后，圖像亮度和尺寸逐漸縮小，隨后自動(dòng)關(guān)機(jī)。

　　原因分析：一是開關(guān)電源輸出電壓不穩(wěn)定，逐漸下降所致；二是負(fù)載短路漏電，造成電流增加，電源電壓下降；三是控制系統(tǒng)故障所致。

　　開機(jī)能正常收看時(shí)檢查電源電壓始終穩(wěn)定正常，測量行輸出電路電流也未超過正常值，檢查微處理器控制系統(tǒng)。測量微處理器（CPU）40腳（INT4/ 保護(hù)端）電壓由開機(jī)的4.8 V，逐漸降低，降低到2.2 V 時(shí)，關(guān)機(jī)保護(hù)。

　　測量V613 基極電壓始終為0 V，說明不是該基極所連接的行/ 場保護(hù)電路進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)。懷疑40腳外部電路有漏電元件，檢查40腳（保護(hù)檢測端）外部電路所有元件均未發(fā)現(xiàn)漏電現(xiàn)象，更換V613 無效。測量微處理器的電源時(shí)，發(fā)現(xiàn)5 V 電壓也隨之改變，檢查5 V 穩(wěn)壓電源電路，發(fā)現(xiàn)7805 過熱，表面有燒焦的痕跡（參見上期圖1）。

　　更換N903（光耦）、7805 后，故障不再出現(xiàn)。

　　例4：康佳P2592N 彩電，開機(jī)出現(xiàn)“三無”現(xiàn)象，指示燈亮。

　　分析與檢修：開機(jī)測量開關(guān)電源的輸出+B 電壓，剛開機(jī)時(shí)為130 V，數(shù)秒鐘后，降為50 V 左右。測量微處理器的20腳（開/ 關(guān)機(jī)控制端）電壓為低電平，判斷進(jìn)入保護(hù)性待機(jī)狀態(tài)。故障可能發(fā)生在保護(hù)電路監(jiān)控的行、場輸出電路和電壓電路中。

　　采用“瞬間電壓測量法”，保護(hù)前測量V613 的基極有瞬間上升的0.7 V 電壓，判斷故障在行、場保護(hù)電路中。在開機(jī)的瞬間迅速測量各路保護(hù)電路的分壓電阻R433、R439、R426 上的電壓，發(fā)現(xiàn)R433 上端有10 V以上的不穩(wěn)定電壓，說明行過流保護(hù)電路啟動(dòng)引起的保護(hù)。

　　斷開VD422 穩(wěn)壓二極管，退出保護(hù)后，測量開關(guān)電源輸出電壓和行電流，均在正常范圍內(nèi)，光柵和圖像也無異常，判斷是保護(hù)電路本身元件參數(shù)改變造成誤保護(hù)。檢查發(fā)現(xiàn)V404 和外圍電阻均無漏電和變質(zhì)現(xiàn)象，懷疑C416 失效，造成脈沖電壓進(jìn)入保護(hù)電路引起誤保護(hù)，拆下C416 測量，已無容量。更換C416 后，恢復(fù)保護(hù)電路，開機(jī)后，故障排除（參見上期圖1）。

　　例5：康佳T2566E1 彩電，開機(jī)出現(xiàn)“三無”現(xiàn)象，指示燈亮。

　　分析與檢修：開機(jī)測量開關(guān)電源的輸出+B 電壓，剛開機(jī)時(shí)為130 V，數(shù)秒鐘后，降為50 V 左右，測量微處理器的20腳（開/ 關(guān)機(jī)控制端）電壓為低電平，判斷進(jìn)入保護(hù)性待機(jī)狀態(tài)。該機(jī)的保護(hù)電路與上例的P2592N 彩電相同。為了區(qū)分保護(hù)的原因，決定采用分別斷開各保護(hù)檢測電路輸入端或供電電源的方法，縮小故障范圍。

　　為了不致因負(fù)載嚴(yán)重短路引起過大的損失，首先測量電源、行輸出、場輸出大功率器件對地電阻，排除嚴(yán)重短路漏電故障。

　　然后測量V613 的基極電壓，關(guān)機(jī)前有0.7 V 的突升電壓，判斷故障在行、場保護(hù)電路。測量各路保護(hù)電路的分壓電阻R433、R439、R426 上的電壓，發(fā)現(xiàn)R439上端有10 V 以上的突升電壓，說明場過流保護(hù)電路啟動(dòng)引起的保護(hù)。斷開VD423 后，開機(jī)不再保護(hù)，但出現(xiàn)一條水平亮線，說明場輸出電路有故障。

　　檢查測量場輸出電路，發(fā)現(xiàn)場輸出電路TA8427K內(nèi)部短路。更換場輸出電路TA8427K，并恢復(fù)場供電電路，故障排除。