時(shí)序分析器的用戶界面
出處：davidli88 發(fā)布于：2008-09-16 16:28:39
時(shí)序分析器可以從ISE工程中打開，在【Processes】窗口中展開【Map】目錄，雙擊【AnalyzePostˉMAP Static Timing】圖標(biāo)打開時(shí)序分析器． 也可以展開【Place ＆ Route】目錄，然后雙擊【Analyze Post Place ＆ Route Static Timing】圖標(biāo)打開時(shí)序分析器，如圖1所示．如果之前的Processes沒有運(yùn)行， 雙擊時(shí)序分析器圖標(biāo)使ISE運(yùn)行Processes，然后才能打開時(shí)序分析器。
圖1啟動單獨(dú)運(yùn)行時(shí)序分析器
打開的時(shí)序分析器窗口如圖2所示， 其中左上角的工具欄提供了時(shí)序分析的快捷按鈕標(biāo)，【Source】窗口列出了的基本信， 約束文件及Data sheet的目錄，單擊【Source】窗口巾的條目會在右邊窗格中顯示對應(yīng)的詳細(xì)信息．
圖2 時(shí)序分析器窗口
下面我們介紹在ISE中使用時(shí)序分析器的方法。
上一篇：時(shí)序后析器
下一篇：使用時(shí)序分析器
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處：維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品，版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng)，轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng)，http://m.58mhw.cn，違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí)，必須保留本網(wǎng)注明的作品出處，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- EDA技術(shù)工具鏈與全流程設(shè)計(jì)運(yùn)維指南2026/1/5 10:28:51
- PLC程序現(xiàn)場疑難問題排查與深度優(yōu)化指南2025/12/24 14:36:36
- PLC程序現(xiàn)場調(diào)試與優(yōu)化實(shí)操指南2025/12/24 14:29:57
- 工業(yè)PLC模擬量信號采集：調(diào)理技術(shù)與抗干擾工程方案2025/12/15 14:39:08
- PLC設(shè)備如何選型2025/9/5 17:15:14
- PCB埋盲孔設(shè)計(jì)與工藝適配核心技術(shù)規(guī)范
- 如何提高M(jìn)OSFET在惡劣環(huán)境下的可靠性？
- 繼電器觸點(diǎn)壽命及可靠性分析
- 可重構(gòu)濾波器技術(shù)：滿足多標(biāo)準(zhǔn)通信系統(tǒng)的靈活需求
- 磁集成技術(shù)在小型化電源設(shè)計(jì)中的應(yīng)用
- 微帶線阻抗匹配設(shè)計(jì)與實(shí)操調(diào)試技巧
- 從S參數(shù)到實(shí)際元件：微帶線濾波器的設(shè)計(jì)與仿真流程
- IP67/IP68連接器設(shè)計(jì)解析
- 電源管理IC失效的常見原因
- MOSFET體二極管特性分析
