對智能卡微控制器的分析和防御:測量CPU的電磁輻射
出處:awey 發(fā)布于:2008-11-21 14:45:43
理論上能從測量智能卡微處理器的電磁輻射,以和差分功率分析相同的方式推出有關其內部處理的結論。小尺寸和小強度的磁場可用超導量子干涉器件SQUID(SuperconductingQuantum Interference Devices)測量,在技術上是極其復雜的。一般而言,此方法所不可或缺的有關半導體器件的內部結構的知識也不易得到。此外,IC可以在其頂上疊加數根線條以極其有效地抵御這種類型的攻擊,即使測得磁場也無法確定究竟是那根線上的電流。
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