硅-硅直接鍵合的工藝模擬
出處:chunyang 發(fā)布于:2007-04-29 10:08:14
硅-硅直接鍵合工藝是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,受許多客觀的工藝條件和工藝水平的限制。硅-硅直接鍵合工藝還沒(méi)有象IC工藝發(fā)展的那樣成熟,對(duì)工藝的各項(xiàng)單項(xiàng)工藝的結(jié)果進(jìn)行計(jì)算模擬,為設(shè)計(jì)工藝條件提供可靠的依據(jù)。本章主要工作是建立硅-硅直接鍵合單項(xiàng)工藝的物理數(shù)學(xué)模型,根據(jù)實(shí)際的工藝條件推導(dǎo)出它們的理論結(jié)果,對(duì)硅片鍵合的結(jié)果進(jìn)行預(yù)測(cè),并且與實(shí)際其它測(cè)量設(shè)備的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較,改進(jìn)和完善工藝的物理數(shù)學(xué)模型,建立一套完整的鍵合工藝IP庫(kù),使鍵合工藝象IC工藝一樣可以直接模擬。目前,主要進(jìn)行了三方面的工作:(1)硅-硅直接鍵合的雜質(zhì)分布,包括了退火溫度、退火時(shí)間、雜質(zhì)濃度和類(lèi)型、界面本征氧化層等影響雜質(zhì)分布的因素;(2)硅-硅直接鍵合界面應(yīng)力分布,包括了兩個(gè)厚硅片的鍵合情況和一個(gè)厚硅片和一個(gè)薄硅片的鍵合情況;(3)硅-硅直接鍵合的鍵合強(qiáng)度,主要是受退火溫度和時(shí)間、鍵合硅片的表面氧化層情況等影響因素。在研究工藝過(guò)程和物理數(shù)學(xué)模型的基礎(chǔ)上,用Matlab軟件編寫(xiě)相應(yīng)的模擬軟件,可以對(duì)硅-硅直接鍵合主要工藝進(jìn)行模擬。
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