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電子測(cè)量

了解 VNA 測(cè)量的 12 項(xiàng)誤差模型和 SOLT 校準(zhǔn)方法

使用信號(hào)流圖開發(fā)錯(cuò)誤模型  通過檢查 VNA 的通用框圖,我們可以開發(fā)測(cè)量系統(tǒng)的誤差模型??紤]圖 1 中的測(cè)量框圖,該框圖用于測(cè)量 DUT 的輸入反射 ( S 11 ) 和前向傳輸 ( ...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-11 閱讀:1048 關(guān)鍵詞:電子

測(cè)試共源共柵氮化鎵 FET

Cascode GaN FET 動(dòng)態(tài)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)  Cascode GaN FET 比其他類型的 GaN 功率器件更早進(jìn)入市場(chǎng),因?yàn)樗梢蕴峁┏jP(guān)操作并具有更寬的柵極驅(qū)動(dòng)電壓范圍。然而,電路設(shè)計(jì)...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-09 閱讀:586 關(guān)鍵詞:共柵氮化鎵FET

模擬和數(shù)字測(cè)試儀器的優(yōu)缺點(diǎn)

模擬和數(shù)字測(cè)試儀器和儀表各有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)?! ≡谀承┣闆r下,測(cè)試儀器或儀表的功能可能是優(yōu)點(diǎn)或缺點(diǎn),具體取決于電工使用儀表的應(yīng)用。例如,大多數(shù)數(shù)字萬用表都具有“自動(dòng)量程”功能。如果預(yù)定義范圍對(duì)于特定應(yīng)用來...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-09 閱讀:759 關(guān)鍵詞:數(shù)字測(cè)試儀器

電氣測(cè)量單位

用于表達(dá)電壓、電流和電阻的標(biāo)準(zhǔn)電氣測(cè)量單位分別是伏特[ V ]、安培[ A ]和歐姆[ Ω ]?! ∵@些電氣測(cè)量單位基于國際(公制)系統(tǒng),也稱為 SI 系統(tǒng),其他常用電氣單位均源自 SI 基本單位?! ∮袝r(shí),在電氣或...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-08 閱讀:1232 關(guān)鍵詞:電氣測(cè)量

功率 MOSFET 特性雙脈沖測(cè)試

IEC 60747-9 標(biāo)準(zhǔn)以 IGBT 為例解釋了相應(yīng)的測(cè)試設(shè)置和測(cè)量結(jié)果。正如預(yù)期的那樣,沒有給出有關(guān)實(shí)際設(shè)計(jì)和可能的陷阱的進(jìn)一步細(xì)節(jié)。  雙脈沖有什么用?  圖 1 顯示了可...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-07 閱讀:655 關(guān)鍵詞: MOSFET

電導(dǎo)率單位換算和測(cè)定

電導(dǎo)率是描述材料導(dǎo)電能力的物理量,通常用西門子每米(S/m)作為單位。電導(dǎo)率的換算可以根據(jù)需要進(jìn)行不同單位之間的轉(zhuǎn)換。一般來說,國際單位制(SI)中的電導(dǎo)率單位換算關(guān)系如下:  1 S/m = 1 (ohm·m)^(-1)  ...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-06 閱讀:1862 關(guān)鍵詞:電導(dǎo)率

Keysight - 是德科技推出領(lǐng)先的基準(zhǔn)測(cè)試解決方案以加快部署人工智能基礎(chǔ)設(shè)施

·大量模擬數(shù)百個(gè)人工智能加速器  ·深度評(píng)估網(wǎng)絡(luò)性能和可擴(kuò)展性并加快上市時(shí)間,且成本低于現(xiàn)有的解決方案  ·準(zhǔn)確還原人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)工作負(fù)載的真實(shí)網(wǎng)絡(luò)行為,具備高仿真度且可重復(fù)驗(yàn)證  是德科技(NYSE...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-05 閱讀:1621 關(guān)鍵詞:人工智能

符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量測(cè)量的重要性

當(dāng)今電力基礎(chǔ)設(shè)施中電能質(zhì)量測(cè)量的需求  一些例子是電動(dòng)汽車 (EV) 充電器,可能需要數(shù)百千瓦以及大量數(shù)據(jù)中心及其相關(guān)設(shè)備,例如供暖、通風(fēng)和空調(diào)。在工業(yè)應(yīng)用中,由變頻驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)變壓器等運(yùn)行的電弧爐不僅會(huì)向...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-04 閱讀:5312 關(guān)鍵詞:電能質(zhì)量測(cè)量

使用交流功率計(jì)測(cè)量功率

瓦特表是電流表和電壓表的組合。它測(cè)量電壓和電流并確定最終的功率。  電力是使用稱為瓦特計(jì)的儀器來測(cè)量的。瓦特表由兩個(gè)線圈組成——一個(gè)用于測(cè)量電流,另一個(gè)用于測(cè)量...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-02 閱讀:594 關(guān)鍵詞:交流功率

旋轉(zhuǎn)編碼器的使用方法

旋轉(zhuǎn)編碼器是一種安裝在旋轉(zhuǎn)軸上并檢測(cè)其運(yùn)動(dòng)的傳感器。常用的設(shè)備包括鼠標(biāo)(球型)和滾輪。對(duì)于工業(yè)用途,它們內(nèi)置于伺服電機(jī)中并用于檢測(cè)電機(jī)的角度位置。通用旋轉(zhuǎn)編碼器...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-03-01 閱讀:931 關(guān)鍵詞:旋轉(zhuǎn)編碼器

VNA 校準(zhǔn)技術(shù)簡(jiǎn)介

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 是適用于射頻和微波應(yīng)用的最精確的測(cè)量?jī)x器之一。例如,現(xiàn)代 VNA 測(cè)量射頻功率的精度可能比任何其他功率傳感器更高。這種精度很大一部分來自于適用于...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-29 閱讀:563 關(guān)鍵詞:VNA 校準(zhǔn)技術(shù)

MCU 測(cè)試芯片嵌入 10.8 Mbit STT-MRAM 存儲(chǔ)器

具有 10.8 Mbit 磁阻隨機(jī)存取存儲(chǔ)器 (MRAM) 存儲(chǔ)單元陣列的原型 MCU 測(cè)試芯片(采用 22 nm 嵌入式 MRAM 工藝制造)聲稱可以實(shí)現(xiàn)超過 200 MHz 的隨機(jī)讀取訪問頻率和 10.4 MB...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-28 閱讀:593 關(guān)鍵詞: 存儲(chǔ)器

低值電阻和連續(xù)性測(cè)試儀

低值電阻測(cè)試儀的范圍可以從簡(jiǎn)單到非常復(fù)雜。選擇通常取決于所需的準(zhǔn)確度。  對(duì)于簡(jiǎn)單的連續(xù)性測(cè)試儀來說,所需要的只是一個(gè)低壓電源和一個(gè)指示器,例如,一個(gè)6V電池和一...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-27 閱讀:637 關(guān)鍵詞:低值電阻

ADC 的測(cè)試

ADC的測(cè)試和DAC的測(cè)試目的是相同的,即驗(yàn)證靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性,ADC進(jìn)行的第一個(gè)測(cè)試是輸入輸出測(cè)試。輸入輸出測(cè)試結(jié)構(gòu)如圖10.5-15所示。輸入電壓范圍從0到VnB,數(shù)字輸出編碼被...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-23 閱讀:609 關(guān)鍵詞:ADC

GaN FET 提供更高的短路能力方案

足夠的故障檢測(cè)響應(yīng)時(shí)間約為 2 s [2],該時(shí)間決定了電源開關(guān)所需的短路承受時(shí)間 (SCWT) 額定值(即設(shè)備可以承受短路事件的最短時(shí)間) ,在源極端子和漏極端子之間施加高電...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-21 閱讀:1574 關(guān)鍵詞:GaN FET

高功率應(yīng)用電流測(cè)量的新方法

為了解釋零通量技術(shù)的操作,首先考慮一些基本原理是適當(dāng)?shù)?。在圖 1 中,左上角顯示了圍繞磁棒構(gòu)建的拾波線圈;右上角顯示了帶有電阻器和電感器的等效電路。當(dāng)施加電壓時(shí),...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-20 閱讀:603 關(guān)鍵詞:電流測(cè)量

了解基本連續(xù)性測(cè)試儀、串聯(lián)和并聯(lián)歐姆表

低值電阻和連續(xù)性測(cè)試儀  低值電阻測(cè)試儀的范圍可以從簡(jiǎn)單到非常復(fù)雜。選擇通常取決于所需的準(zhǔn)確度。  對(duì)于簡(jiǎn)單的連續(xù)性測(cè)試儀來說,所需要的只是一個(gè)低壓電源和一個(gè)指示器,例如,一個(gè)6V電池和一個(gè)6V燈或蜂鳴器...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-02-19 閱讀:587 關(guān)鍵詞:測(cè)試儀

人臉識(shí)別系統(tǒng)需具備活體檢測(cè)功能

人臉識(shí)別系統(tǒng)是一種基于人臉圖像或視頻的生物識(shí)別技術(shù),用于識(shí)別和驗(yàn)證個(gè)體身份。它通過分析人臉的特征和模式來進(jìn)行身份認(rèn)證或身份識(shí)別。人臉識(shí)別系統(tǒng)通常包括以下幾個(gè)步驟:  采集:使用攝像頭或其他圖像采集設(shè)備...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-01-25 閱讀:3239 關(guān)鍵詞:人臉識(shí)別系統(tǒng)

Littelfuse推出用于電動(dòng)汽車鋰離子電池組的先進(jìn)過溫檢測(cè)解決方案

Littelfuse公司 (NASDAQ: LFUS) 是一家工業(yè)技術(shù)制造公司,致力于為可持續(xù)發(fā)展、互聯(lián)互通和更安全的世界提供動(dòng)力。公司隆重推出突破性超溫檢測(cè)平臺(tái)TTape,用于改善鋰離子電池系統(tǒng)的管理。 憑借其創(chuàng)新功能和無與倫比的...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-01-23 閱讀:847 關(guān)鍵詞:電動(dòng)汽車

無源和有源調(diào)諧器優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)以及它們合成阻抗的方法

負(fù)載牽引測(cè)量是一種通用技術(shù),可用于表征任何非線性射頻器件的不同性能指標(biāo)。正如我們?cè)谏弦黄恼轮杏懻摰哪菢?,該技術(shù)的一個(gè)常見應(yīng)用是確定功率放大器 (PA) 的恒定輸出功...

分類:電子測(cè)量 時(shí)間:2024-01-11 閱讀:1357 關(guān)鍵詞:有源調(diào)諧器

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