超高頻標簽是指840M到960MHz無源射頻識別標簽。這個波段的標簽起源自EPCglobal Class 1 Generation 2標準。 其中EPCglobal是電子產(chǎn)品編碼標準組織，類第二代RFID標準經(jīng)常也被縮寫為C1G2。這個標準規(guī)定了超高頻860M-960MHz范圍的射頻識別協(xié)議。這個協(xié)議的特點是通過微秒級的讀寫器-標簽應(yīng)答，和較科學(xué)的防碰撞機制，實現(xiàn)快速、幾十米距離的標簽讀寫。理想情況下每秒盤點標簽可達兩三百個，識讀距離可以達到30米左右，曾經(jīng)一度被熱捧為下一代智能物流的標準。其后ISO組織接受這個標準，轉(zhuǎn)為ISO 18000-6C標準。近年來我國也在這個技術(shù)上發(fā)展革新，推出了自有標準GB/T 29768，其頻率規(guī)定在840-845MHz 和 920M-925MHz，避開了臨近的GSM業(yè)務(wù)波段。

　　目前這些協(xié)議被統(tǒng)稱為800-900MHz超高頻射頻識別。而這些協(xié)議都繼承了高速應(yīng)答，快速盤點，讀寫距離較遠的特點。而這些熱門協(xié)議產(chǎn)品的性能成為使用的關(guān)鍵。其中尤其是標簽，處于競爭激烈的中心。射頻識別標簽單價較低，但是用量很大，對于設(shè)計制造就要求更高。由于標簽設(shè)計技術(shù)和生產(chǎn)工藝的缺陷和不穩(wěn)定，就必須由性能測試來把關(guān)。

　　而這個標簽靈敏度測試由于是非接觸射頻測量，又有各種技術(shù)問題需要克服。本文著重介紹其中的方法理論和實踐情況。

　　超高頻射頻標簽靈敏度測試方法

　　基本設(shè)置

　　超高頻標簽測試往往在微波暗箱或暗室進行，也可以在半暗室和干擾較小的野外場地進行。但是由于超高頻標簽的頻率較高，波長只有1/3米左右，對暗室尺寸要求不太高，經(jīng)濟比較容易承受。關(guān)于標簽測試的物理設(shè)置，有雙天線和單天線兩種主要方法。為了性能，EPCglobal、ISO倡導(dǎo)了雙天線法。這個方法采用一對左右圓極化天線，一發(fā)一收，達到收發(fā)隔離，使得測試系統(tǒng)可以用高功率發(fā)射，高靈敏度接收，從而應(yīng)對更差靈敏度的標簽。為了方便起見，也有用環(huán)行器將雙天線合并為收發(fā)雙工的單天線配置，由于天線反射特性，總體系統(tǒng)性能低于雙天線配置。

圖1雙天線標簽測試配置示意圖

　　表示單位

　　標簽靈敏度通常可以用功率或場強表示。EPCglobal比較實用，采用了RIPTUT，亦即標簽接收到的單極子輻射功率。用通俗的話講，就是標簽剛好可以工作的射頻場強用理想單極子天線接收到的功率。它的單位是dBm。

　　ISO測試用場強表示，也就是使得標簽正常工作的場強。它的單位是V/m。

　　這兩個測試結(jié)果看上去不同，但實際上都是通過測試儀發(fā)射功率計算來的。

　　EPCglobal標簽接收單極子功率計算公式：

　　RIP=EIRP-PL 公式 1

　　EIRP=P+GTx 公式 2

　　其中EIRP是儀器發(fā)射等效單極子輻射功率(dBm)，PL是儀器發(fā)射天線到標簽的自由空間傳輸損耗(dB)，P是發(fā)射天線輸入功率(dBm)，GTx是發(fā)射天線增益(dB)。

　　ISO標簽處場強計算公式：

　　其中，P是發(fā)射功率(W)，G是發(fā)生天線增益，R是發(fā)生天線到標簽距離(m)。這些公式的根本是自由空間傳輸損耗公式和天線增益定義推導(dǎo)而來。

　　計算和推算

　　單極子天線射頻傳輸公式：

　　其中PRx是接收功率，PTx是發(fā)生功率，Ae是天線等效孔徑面積，R是收發(fā)天線距離。這個公式描述了理想單極子天線間遠場傳輸損耗和距離的關(guān)系。下面我們給出幾個典型樣本頻點，在典型測試距離上的自由空間傳輸損耗，單位是dB.

　　表格1自由空間傳輸損耗和距離、頻率的關(guān)系

　　要注意的，上述是遠場球面波模型下推算的，收發(fā)距離太近會使得計算結(jié)果偏離。EPCglobal規(guī)定在0.8-1米距離。ISO 18046-3規(guī)定近測試距離。

　　其中，R是測試距離，L是發(fā)射天線邊長(直徑)。下面我們給出典型天線尺寸和典型頻率下ISO對測試距離的要求。

　　表格2 ISO短測試距離和天線尺寸、頻率的關(guān)系

　　多種測試項目

　　正向連接距離

　　在標簽靈敏度測試當(dāng)中，大家經(jīng)常聽到詢問標簽讀寫距離。讀寫距離和標簽靈敏度、標簽反射功率有關(guān)，但是實際應(yīng)用當(dāng)中又和讀寫器性能有關(guān)。所以在測試中假設(shè)讀寫器用35dBm功率通過理想單極子天線發(fā)射，可以讀寫的距離。那么問題來了，超高頻標簽讀寫距離很遠，是否要裝備超大的射頻暗室呢?非也。我們在上述遠場條件測量標簽工作功率，減去發(fā)射天線增益，得到等效單極子輻射功率EIRPTX然后根據(jù)空間傳輸衰減和距離平方成正比的原理，可以推算出讀寫距離：

　　正向連接距離(forward link range)啊啊也稱為讀取距離，取決于標簽開啟工作所需要的場強。

　　反向連接距離

　　標簽反射的功率大小決定了讀寫器可以在多遠讀到，所以可從標簽反射功率推算反向連接距離(reverse link range)。反向連接距離就是反射功率被天線增益5dBil、接收靈敏度-70dBm的閱讀器識讀的距離。EPCglobal標準[2]提供了計算方法，且結(jié)果通常大于正向連接距離。

　　其中，EIRPTx0是反向連接靈敏度需要的發(fā)射等效單極子功率，定義為正向連接靈敏度加2dB;PRx0是EIRPTx0發(fā)射條件下接收到的標簽反射功率;GRx是接收天線增益。

　　不同標簽工作模式的靈敏度

　　標簽在被識讀ID號、讀取寄存器信息、寫入寄存器信息的工作模式下需要消耗的功率不同，也就是這3個工作模式的靈敏度是不一樣的。這也就有了識別、讀取、寫入靈敏度3個測試模式。上述工作功率、場強、前向和反向讀取距離，都有這3中工作模式下的指標，且各不相同。

　　EIRP和ERP

　　在諸多標準里面用等效單極子發(fā)射功率較多，但是也有用ERP的。ERP在2013年發(fā)布的國家電網(wǎng)公司標準里面是指等效偶極子天線發(fā)射功率。理想的偶極子天線增益是2.2左右，所以兩者就差了這么一個常量。

　　參數(shù)舉例

　　我們假設(shè)發(fā)射和接收天線增益都是6dBi，測試距離1米，標簽天線增益2dB，標簽反射損耗5dB，當(dāng)儀器發(fā)射頻率915MHz，功率PTx時，標簽接收到功率。

　　PTag=PTx+6-31.7+2=PTx-23.7

　　公式 11

　　假設(shè)標簽反射功率是接收功率的1/3，大約-5dB。那么測試儀接收機接收到的功率如下：

　　PRx=PTag-5+2-31.7+6= PTag-28.7

　　公式 12

　　根據(jù)這兩個公式計算不同發(fā)射功率對應(yīng)芯片和接收機接收到的功率：

　　表格3典型條件發(fā)射功率和標簽芯片接收功率對應(yīng)關(guān)系

　　也就是說在較理想情況，1米距離測試超高頻標簽接收到的標簽反射功率比發(fā)射功率小大約62dB。目前的標簽可以達到-18dBm左右的開啟功率，所以，測試儀接收到的標簽信號功率一般在-47.4dBm以上。實際情況下，由于標簽天線設(shè)計，使得其增益小于2或者阻抗匹配帶來衰減，標簽反射比-5dB小一些。考慮到這些因素，假設(shè)不超過10dB影響，接收功率在-60dBm以上。

　　所以RFID標簽靈敏度測試并不要求測試儀器像讀寫器那樣有極低的靈敏度，反而，測試和計量校準是關(guān)鍵的指標。簡單來說，儀器是在保證量值傳遞的條件下測量的工具，比的是，不像被測標簽比的是靈敏度和讀寫距離。

　　測試實例

　　筆者使用聚星儀器的第二代RFID綜合測試儀，在暗箱環(huán)境測試了2款超高頻標簽的靈敏度。其中一個被測標簽是EPC C1G2另一個是國標800/900MHz標簽。每一個標簽測試10遍，得到其重復(fù)。

　　(a)EPCUHF樣本標準差<0.04dBm

　　(b) 國標樣本標準差<0.07dBm

　　圖2兩種標簽的識別開啟功率

　　圖2展示了重復(fù)度測試的曲線。其中(a)是EPCglobalC1G2 UHF樣品標簽的識別功率，(b)是國標800/900M標簽樣品的識別功率?？梢钥吹竭@組樣品中，國標標簽靈敏度優(yōu)于EPC標簽，而我們發(fā)現(xiàn)國標標簽在臨界功率下能否啟動有更大隨機性，所以其標準差略大于EPC樣本標簽?？傊谶@個實驗中展示了儀器重復(fù)度優(yōu)于0.1dB的重復(fù)度。而通常低端用讀寫器芯片或類似技術(shù)組裝的測

　　試設(shè)備重復(fù)遠差于本儀器的性能，從而給計量準確性帶來較大問題。

　　在計量校準方面，國家計量院體系已經(jīng)具備RFID測試儀校準方法和設(shè)施，同時也具備了天線增益測量的設(shè)備。筆者送檢4個RFID測試天線，測試其增益，并且和實驗室兩兩天線對射驗證，達到很高的一致性和重復(fù)。

　　總結(jié)

　　超高頻射頻識別標簽測試是通過高儀器和天線，在計量校準保證下實現(xiàn)的高可溯源測試。儀器通過空中接口指令與被測標簽應(yīng)答，在較近的距離測試標簽識別、讀取、和寫入需要的入射功率，和標簽反射功率。然后根據(jù)這個工作功率計算標簽的等效單極子天線接收功率靈敏度、前向連接距離;根據(jù)功率靈敏度和反射功率計算反向連接距離。

　　對于測試條件和測量單位，EPCglobal和ISO有不同規(guī)定。EPCglobal采用等效功率和距離，ISO采用場強和反射雷達截面積變化率。前者更接近使用場景，后者更接近物理原理，但是兩者實際上都是相同物理量測量的推算結(jié)果，沒有優(yōu)劣之分。

　　根據(jù)各項標準規(guī)范，標簽測試距離大多在1米以內(nèi)，發(fā)射功率在0-30dBm，接收信號功率大多在-60dBm以上。

　　在測量儀器方面，高的儀器是基礎(chǔ)，計量和校準包括儀器射頻收發(fā)和天線增益是保障。目前高端儀器測量可達0.3dB，而重復(fù)度可優(yōu)于0.1dB。

圖3聚星儀器RFID綜合測試儀和微波暗室測試現(xiàn)場