瑞薩新型超級結(jié)金屬氧化物場效應(yīng)三極管
出處:EEWORLD 發(fā)布于:2012-07-20 15:36:06
瑞薩電子公司,半導(dǎo)體解決方案的主要供應(yīng)商,今天宣布推出三款新型超級結(jié)金屬氧化物場效應(yīng)三極管(超級結(jié)MOSFET)(注1),具有如下的特點:600V功率半導(dǎo)體器件中的導(dǎo)通電阻X柵極電荷,適用于高速電機驅(qū)動、DC-DC轉(zhuǎn)換器和DC-AC逆變器應(yīng)用。這一行業(yè)的低導(dǎo)通電阻和低柵極電壓的組合平臺,同時結(jié)合了快速體二極管的性能,使新型RJL60S5DPP、RJL60S5DPK和RJL60S5DPE這三款器件有助于提高家用電器電機驅(qū)動的效率,如空調(diào)等采用帶逆變控制的高速電機的家電。
近年來,對于環(huán)保的日益重視使人們不斷致力于提高電子設(shè)備的能源效率并減少能源消耗。特別是對于空調(diào)和電視等家用電器中的電源電路,更加強調(diào)要降低能耗并提高效率。這就催生了對于降低這些產(chǎn)品中,功率器件功耗的需求(這是更低導(dǎo)通電阻和更好的開關(guān)特性的功能),從而提高整體的能源使用效率。
過去,采用高壓、高速電機和逆變器的空調(diào)和其它家用電器,一般會在一個封裝中采用帶分立式快恢復(fù)二極管(FRD)的IGBT,以實現(xiàn)短的反向恢復(fù)時間(trr)。目前,對于更加高速開關(guān)的需求,以及在穩(wěn)態(tài)運行和高性能狀態(tài)下的更低功耗需求,產(chǎn)生了對于帶快速恢復(fù)體二極管特性的超級結(jié)MOSFET的需求。與傳統(tǒng)的平面架構(gòu)不同,超級結(jié)MOSFET在不降低器件耐壓能力的情況下,降低了導(dǎo)通電阻,使其可以產(chǎn)生具有每單位面積更低的導(dǎo)通電阻。隨著行業(yè)向著更加節(jié)能的方向發(fā)展,為了滿足對于這些器件日益增長的需求,瑞薩公司利用其在功率器件技術(shù)方面積累的豐富經(jīng)驗,新開發(fā)了一系列采用高速體二極管的高性能超級結(jié)MOSFET,實現(xiàn)了低功耗,并提升了高速開關(guān)性能。
新款超級結(jié)MOSFET的主要特性:
(1) 業(yè)界的低導(dǎo)通電阻
憑借從早期為PC服務(wù)器和LCD TV等應(yīng)用所設(shè)計的超級結(jié)MOSFET器件中積累的經(jīng)驗,瑞薩已經(jīng)在具有低柵極電壓的600V功率半導(dǎo)體器件上實現(xiàn)了150 mΩ(典型值)的導(dǎo)通電阻。這就為采用高速電機和逆變控制的家用電器等應(yīng)用實現(xiàn)了電源效率的改善。
(2)更短的反向恢復(fù)時間
新款超級結(jié)MOSFET器件具有內(nèi)置的快速體二極管,其規(guī)格優(yōu)化用于高速電機控制應(yīng)用。二極管的反向恢復(fù)時間顯著縮短,僅為150ns,約為現(xiàn)有類似功率超級結(jié)MOSFET器件中二極管的三分之一。
(3)高速開關(guān)性能,顯著降低鳴響等副作用
瑞薩通過優(yōu)化表面結(jié)構(gòu),改進了漏柵電容,從而限度地減少鳴響,同時還保證了高速的開關(guān)性能。這一改進有助于降低功耗和穩(wěn)定操作,特別適用于三相橋式電路,廣泛用于高速電機和逆變器控制應(yīng)用中。
瑞薩通過提供總的信號鏈解決方案持續(xù)為客戶提供技術(shù)支持,方案將微控制器(MCU)與模擬和功率器件相結(jié)合,并希望增加其作為功率半導(dǎo)體器件供應(yīng)商的地位。瑞薩考慮將這一新的高超級結(jié)MOSET器件系列作為其高壓功率器件陣列的,旨在進一步增強其產(chǎn)品系列。瑞薩還將針對電機和反極器應(yīng)用擴大其配套解決方案的范圍,將新的超級結(jié)MOSFET器件與瑞薩RL78系列低功率MCU,RX系列中檔MCU、以及用以驅(qū)動功率半導(dǎo)體器件的光耦相結(jié)合。整合了新型超級結(jié)MOSFET器件的參考開發(fā)板也計劃推出,從而為客戶提供配套評估和產(chǎn)品設(shè)計方面的支持。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://m.58mhw.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 熱設(shè)計決定壽命:電源散熱分析與優(yōu)化方法2026/3/4 14:28:27
- 連接器接觸件材料對性能的影響2026/3/4 14:18:30
- 開關(guān)頻率對電源設(shè)計的影響2026/3/4 14:05:10
- MOSFET漏源擊穿電壓Vds解析2026/3/4 13:51:21
- 晶體管與MOSFET的區(qū)別詳解2026/3/3 14:36:02









