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淺談嵌入式系統(tǒng)中Nand-Flash的原理及應(yīng)用

出處:黃海軍 王宜懷 發(fā)布于:2011-09-02 09:08:32

 

  NOR和NAND是現(xiàn)在市場上兩種主要的非易失閃存技術(shù)。Intel于1988年首先開發(fā)出NORflash技術(shù),徹底改變了原先由EPROM和EEPROM一統(tǒng)天下的局面。緊接著,1989年,東芝公司發(fā)表了NANDflash結(jié)構(gòu),強(qiáng)調(diào)降低每比特的成本,更高的性能,并且象磁盤一樣可以通過接口輕松升級(jí)。但是經(jīng)過了十多年之后,仍然有相當(dāng)多的硬件工程師分不清NOR和NAND閃存。NOR的特點(diǎn)是芯片內(nèi)執(zhí)行(XIP,eXecuteInPlace),這樣應(yīng)用程序可以直接在flash閃存內(nèi)運(yùn)行,不必再把代碼讀到系統(tǒng)RAM中。NOR的傳輸效率很高,在1~4MB的小容量時(shí)具有很高的成本效益,但是很低的寫入和擦除速度大大影響了它的性能。

  flash閃存是非易失存儲(chǔ)器,可以對(duì)稱為塊的存儲(chǔ)器單元塊進(jìn)行擦寫和再編程。任何flash器件的寫入操作只能在空或已擦除的單元內(nèi)進(jìn)行,所以大多數(shù)情況下,在進(jìn)行寫入操作之前必須先執(zhí)行擦除。NAND器件執(zhí)行擦除操作是十分簡單的,而NOR則要求在進(jìn)行擦除前先要將目標(biāo)塊內(nèi)所有的位都寫為0.由于擦除NOR器件時(shí)是以64~128KB的塊進(jìn)行的,執(zhí)行一個(gè)寫入/擦除操作的時(shí)間為5s,與此相反,擦除NAND器件是以8~32KB的塊進(jìn)行的,執(zhí)行相同的操作多只需要4ms.

  本文以三星公司的K9F1208UOB芯片為例,介紹Nand-flash存儲(chǔ)器芯片的讀寫流程和時(shí)序。

  1 Nand-Flash存儲(chǔ)器的工作原理

  1.1 Nand-Flash存儲(chǔ)器的組成結(jié)構(gòu)及指令集

  K9F1208UOB的容量為64Mb,存儲(chǔ)空間按128K個(gè)頁(行)、每頁中528個(gè)字節(jié)(列)的組成方式構(gòu)成。備用的16列,位于列地址的512-527.K9F1208UOB還將存儲(chǔ)空間分為塊(block),每1塊由32個(gè)頁構(gòu)成。因此K9F1208UOB中一共有4096個(gè)塊。這種"塊-頁"結(jié)構(gòu),恰好能滿足文件系統(tǒng)中劃分簇和扇區(qū)的結(jié)構(gòu)要求。K9F1208UOB的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖1所示。

 

 
圖1 K9F1208UOB的內(nèi)部結(jié)構(gòu)


  K9F1208UOB的讀和寫都以頁為單位,擦除則以塊為單位進(jìn)行操作。

  NANDFlash的數(shù)據(jù)是以bit的方式保存在memorycell,一般來說,一個(gè)cell中只能存儲(chǔ)一個(gè)bit.這些cell以8個(gè)或者16個(gè)為單位,連成bitline,形成所謂的byte(x8)/word(x16),這就是NANDDevice的位寬。這些Line會(huì)再組成Page,(NANDFlash有多種結(jié)構(gòu),我使用的NANDFlash是K9F1208,下面內(nèi)容針對(duì)三星的K9F1208U0M),每頁528Bytes(512byte(MainArea)+16byte(SpareArea)),每32個(gè)page形成一個(gè)Block(32*528B)。具體一片flash上有多少個(gè)Block視需要所定。我所使用的三星k9f1208U0M具有4096個(gè)block,故總?cè)萘繛?096*(32*528B)=66MB,但是其中的2MB是用來保存ECC校驗(yàn)碼等額外數(shù)據(jù)的,故實(shí)際中可使用的為64MB.

  1.2 Nand-Flash操作

  1.2.1 頁讀操作

  在初始上電時(shí),器件進(jìn)入缺省的"讀方式1模式".在這一模式下,頁讀操作通過將00h指令寫入指令寄存器,接著寫入3個(gè)地址(1個(gè)列地址,2個(gè)行地址)來啟動(dòng)。一旦頁讀指令被器件鎖存,下面的頁讀操作就不需要再重復(fù)寫入指令了。

  寫入指令和地址后,處理器可以通過對(duì)信號(hào)線R/B的分析來判斷該操作是否完成。如果信號(hào)為低電平,表示器件正"忙";為高電平,說明器件內(nèi)部操作完成,要讀取的數(shù)據(jù)被送入了數(shù)據(jù)寄存器。外部控制器可以在以50ns為周期的連續(xù)RE脈沖信號(hào)的控制下,從I/O口依次讀出數(shù)據(jù)。連續(xù)頁讀操作中,輸出的數(shù)據(jù)是從指定的列地址開始,直到該頁的-個(gè)列地址的數(shù)據(jù)為止。

  1.2.2 頁寫操作

  K9F1208UOB的寫入操作也以頁為單位。寫入必須在擦除之后,否則寫入將出錯(cuò)。

  頁寫入周期總共包括3個(gè)步驟:寫入串行數(shù)據(jù)輸入指令(80h),然后寫入3個(gè)字節(jié)的地址信息,串行寫入數(shù)據(jù)。串行寫入的數(shù)據(jù)多為528字節(jié),它們首先被寫入器件內(nèi)的頁寄存器,接著器件進(jìn)入一個(gè)內(nèi)部寫入過程,將數(shù)據(jù)從頁寄存器寫入存儲(chǔ)宏單元。

  串行數(shù)據(jù)寫入完成后,需要寫入"頁寫入確認(rèn)"指令10h,這條指令將初始化器件的內(nèi)部寫入操作。如果單獨(dú)寫入10h而沒有前面的步驟,則10h不起作用。10h寫入之后,K9F1208UOB的內(nèi)部寫控制器將自動(dòng)執(zhí)行內(nèi)部寫入和校驗(yàn)中必要的算法和時(shí)序,這時(shí)系統(tǒng)控制器就可以去做別的事了。

  內(nèi)部寫入操作開始后,器件自動(dòng)進(jìn)入"讀狀態(tài)寄存器"模式。在這一模式下,當(dāng)RE和CE為低電平時(shí),系統(tǒng)可以讀取狀態(tài)寄存器??梢酝ㄟ^檢測R/B的輸出,或讀狀態(tài)寄存器的狀態(tài)位(I/O 6)來判斷內(nèi)部寫入是否結(jié)束。在器件進(jìn)行內(nèi)部寫入操作時(shí),只有讀狀態(tài)寄存器指令和復(fù)位指令會(huì)被響應(yīng)。當(dāng)頁寫入操作完成,應(yīng)該檢測寫狀態(tài)位(I/O 0)的電平。

  內(nèi)部寫校驗(yàn)只對(duì)沒有成功地寫為0的情況進(jìn)行檢測。指令寄存器始終保持著讀狀態(tài)寄存器模式,直到其他有效的指令寫入指令寄存器為止。

  1.2.3 塊擦除

  擦除操作是以塊為單位進(jìn)行的。擦除的啟動(dòng)指令為60h,塊地址的輸入通過兩個(gè)時(shí)鐘周期完成。這時(shí)只有地址位A14到A24是有效的,A9到A13則被忽略。塊地址載入之后執(zhí)行擦除確認(rèn)指令D0h,它用來初始化內(nèi)部擦除操作。擦除確認(rèn)命令還用來防止外部干擾產(chǎn)生擦除操作的意外情況。器件檢測到擦除確認(rèn)命令輸入后,在WE的上升沿啟動(dòng)內(nèi)部寫控制器開始執(zhí)行擦除和擦除校驗(yàn)。內(nèi)部擦除操作完成后,檢測寫狀態(tài)位(I/O 0),從而了解擦除操作是否有錯(cuò)誤發(fā)生。

  1.2.4 讀狀態(tài)寄存器

  K9F1208UOB包含一個(gè)狀態(tài)寄存器,該寄存器反應(yīng)了寫入或擦除操作是否完成,或?qū)懭牒筒脸僮魇欠駸o錯(cuò)。寫入70h指令,啟動(dòng)讀狀態(tài)寄存器周期。狀態(tài)寄存器的內(nèi)容將在CE或RE的下降沿處送出至I/O端口。

  器件一旦接收到讀狀態(tài)寄存器的指令,它就將保持狀態(tài)寄存器在讀狀態(tài),直到有其他的指令輸入。因此,如果在任意讀操作中采用了狀態(tài)寄存器瀆操作,則在連續(xù)頁讀的過程中,必須重發(fā)00h或50h指令。

  1.2.5 讀器件ID

  K9F1208UOB器件具有一個(gè)產(chǎn)品鑒定識(shí)別碼(ID),系統(tǒng)控制器可以讀出這個(gè)ID,從而起到識(shí)別器件的作用。讀ID的步驟是:寫入90h指令,然后寫入一個(gè)地址00h.在兩個(gè)讀周期下,廠商代碼和器件代碼將被連續(xù)輸出至I/O口。

  同樣,一旦進(jìn)入這種命令模式,器件將保持這種命令狀態(tài),直到接收到其他的指令為止。

  1.2.6 復(fù)位

  器件提供一個(gè)復(fù)位(RESET)指令,通過向指令寄存器寫入FFh來完成對(duì)器件的復(fù)位。當(dāng)器件處于任意讀模式、寫入或擦除模式的忙狀態(tài)時(shí),發(fā)送復(fù)位指令可以使器件中止當(dāng)前的操作,正在被修改的存儲(chǔ)器宏單元的內(nèi)容不再有效,指令寄存器被清零并等待下一條指令的到來。當(dāng)WP為高時(shí),狀態(tài)寄存器被清為C0h.

  2 系統(tǒng)硬件連線及軟件設(shè)計(jì)

  2.1硬件連線

  K9F1208UOB和S3C2440A的接口電路如圖2所示。


 
圖2 K9F1208UOB與S3C2440A硬件電路


  2.2 軟件設(shè)計(jì)

  步驟1:Nand-Flash初始化

  利用ADS1.2等工具建立工程文件nandflash_test.mcp,在Nand.c文件中Test_K9S1208子函數(shù)實(shí)現(xiàn)了主要測試功能。

  gpacon = rGPACON;

  rGPACON=(rGPACON &~(0x3f《17))|(0x3f《17);

  首先備份rGPACON的內(nèi)容,再設(shè)置GPA17-22的工作方式。然后調(diào)用Nand-Flash初始化函數(shù)。

  NF8_Init0;//初始化函數(shù)

  初始化函數(shù)的實(shí)現(xiàn)源碼如下:

  rNFCONF=(TACLS《12)|(TWRPH0《8)I(TWRPH1《4)|(0《0):

  rNFCONT=(0《13)|(0《12)|(0《10)|(0《9)|(0《8)|(1《6)|(1《5)|(1《4)|(1《1)|(1《0):

  步驟2:讀器件ID碼

  由于S3C2440A中沒有像支持SDRAM 一樣提供直接與Nand-flash存儲(chǔ)器的接口,讀寫的過程要靠軟件編程來完成。初始化Nand-Flash后,就可以對(duì)Nand-Flash進(jìn)行操作了。

  程序調(diào)用NF8_Print_Id()子函數(shù)讀出器件ID碼。

  id=NF8_CheckId(); //繼續(xù)調(diào)用子函數(shù)

  device=(U8)id;

  maker=(U8)(id》8):

  Uart_Printf("Maker:%x,Device:%x ",maker,device);

  NF8_Print_Id()源碼如下:

  NF_CMD(0x90);//寫入90h指令

  NF_ADDR(0x0);//寫入地址00h

  for(i=0;i<10;i++);

  Uart_Printf("NFSTAT:0x%x ",rNFSTAT);

  id=NF_RDDATA8()《8;//Maker code 0xec讀出ID值

  id |=NF_RDDATA8();

  //Devide code(K9S1208V:0x76),(K9K2G16U0M:0xca)

  步驟3:頁讀寫程序

  本實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)了某頁的寫及讀出驗(yàn)證功能。Test_NFS_Rw子函數(shù)實(shí)現(xiàn)這一功能。

  程序首先初始化要寫入的數(shù)據(jù),*dstPt是要讀出驗(yàn)證的數(shù)據(jù),先填0;*srcPt是要寫入的數(shù)據(jù),先用隨機(jī)數(shù)填滿。

  for(i=0;i<512;i++) *dstPt++=0x0;//填0

  for(i=0;i<512;i++){

  #if ADS10==TRUE

  if(offset==-1) *srcPt++=rand()%0xff;//隨機(jī)數(shù)填滿

  #else

  if(offset==-1) srcPt++ =i%0xf;

  #endif

  else *srcPt++=i+offset;

  }

  寫之前先進(jìn)行擦除工作:

  if(NF8_EraseBIock(block)==FAIL) return;

  然后進(jìn)行頁寫入操作:

  if(NF8_WritePage(block,page,srcPt)==FAIL) return;

  將用隨機(jī)數(shù)填滿的srcPt指向的數(shù)據(jù)寫入到指定的頁中。寫入之后再讀出驗(yàn)證:

  if(NF8_ReadPage(block,page,dstPt)==FAIL) return;

  Uart_Printf("Checking data. ");

  for(error=0,i=0;i<512;i++){

  if(*srcPt++!=*dstPt++){//比較操作

  Uart_Printf("Error:%d[W:%x,R:%x] ",i,*srcPt,*dstPt);

  error++;

  }

  }

  if(error!=0)

  {Uart_Printf("Fail to R/W test(%d)。 ",error);

  return(2);

  }

  else

  {Uart_Printf("R/W test OK. ");

  return(1);

  }

  其中NF8_ReadPage(block,page,dstPt)將讀出的數(shù)據(jù)放入dstPt指向的地址空間里。將寫入的數(shù)據(jù)和讀出的數(shù)據(jù)比較,打印驗(yàn)證信息。

  步驟4:編譯工程

  所有的函數(shù)都實(shí)現(xiàn)以后,通過ADS1.2進(jìn)行編澤,生成可執(zhí)行文件。在工程文件夾" andflash_testaandflash_test_DatakDebugRel"下,可以看到nandflash_test.bin可執(zhí)行文件。

  步驟5:程序運(yùn)行

  將串口線與硬件開發(fā)系統(tǒng)板串口和開發(fā)PC機(jī)的COM1連接好(主要用于回顯),用USB線和開發(fā)PC 機(jī)的USB口相連后(主要用于數(shù)據(jù)的),打開DNW 軟件,將串口設(shè)置為COM1,比特率設(shè)置為115200,USB地址設(shè)為0x30000000.

  使用DNW 將前面生成的可執(zhí)行文件到內(nèi)存中去運(yùn)行。

  3 結(jié)束語

  本文主要討論了Nand-flash存儲(chǔ)器芯片的工作原理以及以三星公司基于ARM公司的ARM920T處理器核S3C2440A為平臺(tái)舉了一個(gè)測試實(shí)例,讓讀者對(duì)整個(gè)存儲(chǔ)系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)過程有了一個(gè)較為全面的了解,便于在其它嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中運(yùn)用。

 


  
關(guān)鍵詞:嵌入式嵌入式系統(tǒng)

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