SJ/T 11399-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測試方法
出處：藍(lán)色魅力 發(fā)布于：2011-06-20 11:13:31
1.范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片（以下簡稱芯片）的輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)參數(shù)以及電磁兼容性的測試就去。
2.規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然后，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適合于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 5698-2001 顏色術(shù)語
GB/T 11499-2001 半導(dǎo)體分立器件文字符號
GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分：光電子器件（IEC 60747-5：1993，IDT）
SJ/T 11394-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法
全文PDF：SJT 11399-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測試方法.rar
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