SJT 11394-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法
出處：hooyean 發(fā)布于：2011-06-13 10:02:17
1.范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體發(fā)光二極管（以下簡稱器件）的輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)參數(shù)以及電磁兼容性的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于可見光、白光半導(dǎo)體發(fā)光二極管。紫外發(fā)射二極管、結(jié)外發(fā)射二極管、半導(dǎo)體發(fā)光組件和芯片的測試可參考執(zhí)行。
2.規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本使用于本標(biāo)題。
全文PDF：SJT 11394-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法.rar
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