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CMOS 數(shù)控振蕩器設(shè)計

出處:liuyu305 發(fā)布于:2011-02-22 09:56:03

     摘 要:設(shè)計并討論了一種新穎的完全基于CMOS 靜態(tài)邏輯反相器設(shè)計的數(shù)字控制振蕩器DCO 結(jié)構(gòu)(Digitally-Controlled Oscillator),這種數(shù)字控制振蕩器采用全數(shù)字電路構(gòu)成,較之LC振蕩器更加易于設(shè)計和制造,適合于高頻高性能數(shù)字鎖相環(huán)的應(yīng)用。電路結(jié)構(gòu)的仿真采用Spectre 仿真器,基于STMicroelectronics CMOS 90nm工藝,在1.2V電源電壓下實現(xiàn)了1GHz~6GHz的數(shù)控振蕩頻率變化范圍,功耗為0.1mW~3mW,10MHz 的頻率偏移處的相位噪音約為-114dBc/Hz。

  1 引言

  隨著數(shù)字信號處理越來越廣泛的應(yīng)用,數(shù)字鎖相環(huán)DPLL(Digital Phase Lock Loop)在現(xiàn)代集成電路設(shè)計中也越來越普遍,特別是在數(shù)字信號處理器DSP 和微處理器這類高性能數(shù)字電路應(yīng)用中,數(shù)字鎖相環(huán)更是一種必不可少的電路。與傳統(tǒng)的模擬鎖相環(huán)(Analog Phase-Locked Loop)相比,由于數(shù)字鎖相環(huán)較少采用高阻值電阻、電容以及電感等非線性器件,可以采用與高速數(shù)字邏輯電路相兼容的制造工藝來設(shè)計和制造,也更加容易在數(shù)字系統(tǒng)中應(yīng)用。

  一個典型的數(shù)字鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)如圖1 所示,數(shù)控振蕩器DCO(Digital-Controlled Oscillator)是其中關(guān)鍵和的部分。數(shù)控振蕩器DCO 輸出了可變頻率的振蕩波形,決定了整個鎖相環(huán)的噪聲性能和功耗。數(shù)字時間轉(zhuǎn)換器(Time - to - DigitalConverter)輸出了參考時鐘和反饋來的輸出時鐘之間的相位差,一個數(shù)字環(huán)形濾波器(Digital LoopFilter)代替了模擬環(huán)形濾波器來控制DCO,由與參考時鐘的相位差來控制DCO 輸出或高或低的振蕩頻率,輸出振蕩信號由負反饋送到數(shù)字時間轉(zhuǎn)換器,使相位差減小,終讓輸出信號頻率與參考時鐘頻率一致,即達到相位鎖定。整個DCO 因此不再需要含有電容或電感,同時也減少漏電流和電源噪音的問題。

 數(shù)字鎖相環(huán)的基本結(jié)構(gòu)

圖1 數(shù)字鎖相環(huán)的基本結(jié)構(gòu)

  2 電路結(jié)構(gòu)和原理

  數(shù)控振蕩器有多種實現(xiàn)結(jié)構(gòu),本文設(shè)計了一種完全采用靜態(tài)CMOS 邏輯電路的DCO結(jié)構(gòu),該DCO基于由CMOS 反相器構(gòu)成的環(huán)形振蕩器,其電路結(jié)構(gòu)如圖2 所示。

 電路結(jié)構(gòu)圖

圖2 電路結(jié)構(gòu)圖

  如圖2 所示,每環(huán)形振蕩器均是5 個CMOS反相器串聯(lián),并構(gòu)成閉環(huán)負反饋回路,每個反相器的輸出也與下環(huán)形振蕩器對應(yīng)的反相器輸出相連。根據(jù)巴克豪森準則:振蕩器要產(chǎn)生振蕩,那么環(huán)路增益必須大于等于一且總相移有360°。因此環(huán)路中進行反相的次數(shù)必須是奇數(shù),三個以上的奇數(shù)個CMOS 反相器串聯(lián)閉環(huán)回路,在一個微小的激勵下都能夠產(chǎn)生振蕩。單級環(huán)形振蕩器的振蕩頻率由反相器個數(shù)和其本征延遲決定,用n 表示反相器個數(shù),tr 表示反相器上升沿延遲,tf 表示反相器下降沿延遲,頻率可以用下式表示為:


  反相器下降延遲t f 和上升延遲t r 根據(jù)下列公式定義,式中Rn、Rp 分別為圖2(b)中反相器PMOS管M0、M1 和NMOS 管M2、M3 的等效電阻,Cout 為反相器輸出電容。


  設(shè)置電路中所有MOSFET的溝道長度都為90nm工藝設(shè)計規(guī)范的默認值0.1 μ m。因為在常溫下N 溝道中的電子遷移率大約是P 溝道中的空穴遷移率的2~3 倍,因此設(shè)置PMOS 管的寬度Wp 是NMOS 管寬度Wn 的2 倍,使反相器中NMOS 管和PMOS 管的等效電阻近似相等,即Rn=Rp,也就使tr=tf。

  下降延遲t r 和上升延遲t f 相等可以讓環(huán)形振蕩器產(chǎn)生對稱性比較好的波形,提高振蕩器的抗噪聲性能。

  每的5 個CMOS 反相器由一個高電平有效的輸入信號控制,同時打開或者關(guān)閉,讓DCO 中的環(huán)形振蕩器逐級打開或者逐級關(guān)閉。當(dāng)打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,電路中的振蕩電流越強,電路輸出的振蕩頻率就越快。反之,當(dāng)打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越少,電路中的振蕩電流減弱,但因為整個DCO中的環(huán)形振蕩器總級數(shù)是一定的,因此整個DCO 中的等效電容并沒有減少,所以輸出的振蕩頻率就會下降。因此,該數(shù)控振蕩器是通過控制打開的環(huán)形振蕩器級數(shù),數(shù)字化地控制振蕩頻率,在DPLL中需要一個前置的數(shù)字環(huán)形濾波器提供輸入信號,控制各級振蕩器的打開或關(guān)閉。

  當(dāng)所有環(huán)形振蕩器都打開時,無論該DCO 中總共有多少級環(huán)形振蕩器,DCO 輸出的振蕩波形的頻率fmax 都為式(1)表示的單個環(huán)形振蕩器振蕩頻率。輸出的頻率fmin 也就是當(dāng)只有環(huán)形振蕩器打開時的DCO 輸出頻率。由此分析,DCO 的增益可以如下式表示,式中N 為電路中總的環(huán)形振蕩器級數(shù):


  由上述分析可見,當(dāng)該DCO 中具有的總的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,可以輸出的fmin 越小,KDCO 也越小,也就是每環(huán)形振蕩器開關(guān)所控制的頻率增減也越小,振蕩器線性度也就越好。

  3 仿真結(jié)果

  本文基于STMicroelectronics的90nm CMOS混合信號工藝,采用Cadence Virtuoso 設(shè)計軟件,使用Analog Environment 中的Spectre仿真器進行仿真。由于電路完全與數(shù)字集成電路工藝兼容,因此也可以采用諸如硬件描述語言來設(shè)計電路。

  由32 級環(huán)形振蕩器構(gòu)成的數(shù)控振蕩器DCO 在Cadence Virtuoso 中的仿真電路如圖3 所示,在本文的仿真中,是使用直流電壓作為控制DCO 各級環(huán)形振蕩器打開或者關(guān)閉的輸入信號。

32級的DCO結(jié)構(gòu)仿真電路圖
圖3 32級的DCO結(jié)構(gòu)仿真電路圖

  電路中電源電壓VDD=1.2V,所有MOSFET 均采用9 0 n m 工藝庫中的標準電壓晶體管S V T(Standard Vol tage Tr ansi st or ),其閾值電壓為Vthn=0.3V,|Vthp|=0.3V。當(dāng)32級環(huán)形振蕩器逐級打開,數(shù)控振蕩器輸出波形的振蕩頻率也逐級上升,整個數(shù)控振蕩器的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖4 所示。

DCO輸出頻率調(diào)節(jié)曲線

圖4 DCO輸出頻率調(diào)節(jié)曲線

  當(dāng)32 級DCO中的18 級環(huán)形振蕩器打開的時候,DCO 的相位噪聲如圖5 所示。相位噪聲由Spectre 仿真器的pss 分析和pnoi se 分析測得。

打開18 級時的DCO相位噪聲

圖5 打開18 級時的DCO相位噪聲

  該32 級數(shù)控振蕩器的相位噪聲和功耗如表1 所示,隨著環(huán)形振蕩器逐級打開,相位噪聲和功耗都明顯上升,這是獲得高頻率輸出波形所付出的性能代價。先測得單個反相器的平均電流,測得各個打開的反相器平均電流均約為14 μ A,由下式可以得到電路的總功耗,式中N 為打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)。


  為了研究環(huán)形振蕩器級數(shù)對頻率調(diào)節(jié)范圍的影響,將數(shù)控振蕩器的級數(shù)減少至18 級或12 級,再分別測試其頻率調(diào)節(jié)范圍。三種不同級數(shù)數(shù)控振蕩器調(diào)節(jié)范圍的對比如圖6 所示,不同級數(shù)的數(shù)控振蕩器fmax 相等,但fmin 隨著數(shù)控振蕩器的總級數(shù)增加而減小,且KDCO 也變小,調(diào)節(jié)線性度更好。

不同級數(shù)數(shù)控振蕩器的頻率調(diào)節(jié)范圍

圖6 不同級數(shù)數(shù)控振蕩器的頻率調(diào)節(jié)范圍

表1 數(shù)控振蕩器不同級打開時的相位噪聲和功耗

數(shù)控振蕩器不同級打開時的相位噪聲和功耗

  進一步測試器件尺寸對數(shù)控振蕩器性能的影響,當(dāng)器件寬度Wn 和Wp 增加,反相器中的平均電流增加,可以輸出更高的頻率并減小電路中器件噪聲導(dǎo)致的相位噪聲,這對高性能電路是有意義的,但電路功耗也隨之增加。對于18 級數(shù)控振蕩器,保持電路中全部MOSFET 的溝道長度不變,同時增大圖2(b)中的NMOS 管M2、M3 的Wn和PMOS 管M0、M1 的Wp至原尺寸的1.5 倍后測得的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖7 所示,全部環(huán)形振蕩器共18 級打開后的DCO 功耗 及相位噪聲如表2 所示。

表2 器件尺寸不同時測得的功耗及相位噪聲

器件尺寸不同時測得的功耗及相位噪聲

器件尺寸不同時測得的頻率調(diào)節(jié)范圍對比

圖7 器件尺寸不同時測得的頻率調(diào)節(jié)范圍對比

  4 結(jié)論

  該數(shù)控振蕩器結(jié)構(gòu)采用全靜態(tài)CMOS 邏輯電路來設(shè)計,獲得了線性度較好的頻率調(diào)節(jié)范圍,在90nm混合信號工藝條件下全DCO電路功耗在3mV左右,10MHz處相位噪聲低于-110 dBc/Hz,性能相比傳統(tǒng)LC 壓控振蕩器有過之而無不及,非常適合應(yīng)用于高性能數(shù)字電路中。在用該數(shù)控振蕩器結(jié)構(gòu)設(shè)計DPLL 時,應(yīng)進一步增加環(huán)形振蕩器級數(shù)以提供線性度更好的可調(diào)輸出頻率范圍,并需要前置數(shù)字環(huán)形濾波器提供相配合的控制信號。


  
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