惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和時(shí)下對(duì)成本為敏感的集成電路和微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長的上市時(shí)間壓力。

　　V101測(cè)試系統(tǒng)擁有多達(dá)1024個(gè)輸入/輸出通道，數(shù)字時(shí)鐘頻率高達(dá)100 MHz，其性能保證可以經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試目前對(duì)成本為敏感的集成電路和微控制器，尤其是廣泛應(yīng)用于低端移動(dòng)通信和消費(fèi)類產(chǎn)品。

　　V101擁有獨(dú)特的Tester-on-Board架構(gòu)，可直接在測(cè)試板上布置數(shù)字直流資源，從而簡化了測(cè)試儀硬件和配置。該架構(gòu)支持高效率的多站點(diǎn)測(cè)試，數(shù)據(jù)吞吐量高，同時(shí)可降低測(cè)試成本，而標(biāo)準(zhǔn)化組件使得V101易于安裝和維護(hù)。

　　V101可經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試4/8/16位MCU和其他低管腳數(shù)低端IC芯片。該數(shù)字儀器卡擁有8個(gè)DPS(設(shè)備電源)，數(shù)字時(shí)鐘頻率高達(dá)100 MHz，深度的矢量內(nèi)存(60M)和捕捉內(nèi)存(8 M)滿足了芯片生命周期短以及改版快的要求，低噪音水平提高了度和產(chǎn)出。板載多功能直流測(cè)量單元避免了對(duì)單獨(dú)模擬卡的需求，支持嵌入式A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試，從而降低了成本。