近在調(diào)試一項(xiàng)設(shè)計(jì)時(shí)，我發(fā)現(xiàn)接地層和電源層之間存在短路故障。我手頭沒(méi)有確定此類短路故障位置的毫歐表或者等效的測(cè)試儀。于是，我便到因特網(wǎng)上去找一種可以簡(jiǎn)單搭建的毫歐表。我在一家制造商的數(shù)據(jù)表中找到了答案，該數(shù)據(jù)表概述了基本的低電阻四線測(cè)量法。該方法利用一塊電壓基準(zhǔn) IC 作為一個(gè)受控恒流源的輸入級(jí)。我在舊元件桶里找了找，發(fā)現(xiàn)一些 LM317 可變電壓穩(wěn)壓器。這些 IC 在其V_OUT 引腳和 V_ADJ 引腳之間輸出為 1.25V恒定電壓，可用來(lái)解決恒流問(wèn)題。另一個(gè)要解決的問(wèn)題是恒流源的輸出電壓范圍。我當(dāng)時(shí)正在搭建的電路使用3.3V 電源，所以我不得不將電壓限制在 3.3V以下。如果輸出電阻太高，則一個(gè)配置為恒流源的 LM317便可 提供與輸入電壓相等的輸出電壓。由于我想使用工作臺(tái)電源或者 9V 電池，所以這種電源電壓會(huì)燒毀電路板上的所有 3.3V 邏輯電路。按照理想的做法，我希望電源電壓限制在 1.5V以下。因此，我想出了圖 1所示的配置。

　　IC1 控制 npn 達(dá)林頓晶體管 Q1 的基極。IC 調(diào)節(jié)所選電阻器兩端的電壓，以形成恒流源。恒流源可輸出10mA 電流或 100 mA 電流，這取決于哪一只發(fā)射極電阻接入電路。S1 的作用是延長(zhǎng)電池壽命。你只要在測(cè)試點(diǎn) A 和 B 之間跨接一個(gè)電阻性負(fù)載，再用數(shù)字電壓表（DVM）測(cè)量該電阻兩端的電壓就可校準(zhǔn)電流源。我使用了 5Ω 和 10Ω兩只電阻，并將S2調(diào)到一位置可輸出10mA，將S2調(diào)到另一位置， 可輸出100 mA。為了測(cè)量一個(gè)小電阻，你可將測(cè)試點(diǎn) A 和 B連接在該電阻兩端。DVM要調(diào)到毫伏量程。DVM顯示的電壓讀數(shù)與被測(cè)電阻成正比。如果你按以上建議校準(zhǔn)所示電路，則量程為100-mA 時(shí)的讀數(shù)是 10Ω/V，而量程為10-mA 時(shí)的讀數(shù)就是 100Ω/V。
　　為了尋找印刷電路板短路處，要將上述電路的測(cè)試點(diǎn) A 和 B 跨接在可疑的短路信號(hào)兩端。將一個(gè) DVM 探頭接到測(cè)試點(diǎn) A，并用另一個(gè)探頭探測(cè)電路。如果沿一條印制線檢測(cè)到的電壓恒定不變，說(shuō)明印制線上沒(méi)有電流流動(dòng)，該印制線不是造成短路的根源。要在讀數(shù)小的印制線上尋找大讀數(shù)點(diǎn)，再在讀數(shù)大的印制線上尋找小讀數(shù)點(diǎn)，從而確定短路位置。