隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜性的躍升，以覆蓋為導(dǎo)向的驗(yàn)證已經(jīng)從高端解決方案轉(zhuǎn)變成主力軍。雖然整個(gè)EDA產(chǎn)業(yè)正傾向于覆蓋為導(dǎo)向的驗(yàn)證，追求通用性覆蓋數(shù)據(jù)庫，并享用這種“新”技術(shù)帶來的好處，但有個(gè)問題也應(yīng)運(yùn)而生：你能充分利用當(dāng)前已有的所有衡量標(biāo)準(zhǔn)嗎？

予以正確實(shí)現(xiàn)并以覆蓋為導(dǎo)向的驗(yàn)證是一種用于自動(dòng)創(chuàng)建測(cè)試代碼和客觀地跟蹤過程的理想工具。它是以衡量標(biāo)準(zhǔn)為導(dǎo)向的一個(gè)驗(yàn)證例子。以衡量標(biāo)準(zhǔn)為導(dǎo)向的驗(yàn)證可以被寬泛地定義為任何驗(yàn)證過程，該過程可通過客觀、自動(dòng)采集的過程數(shù)據(jù)跟蹤和實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。下面是以衡量標(biāo)準(zhǔn)為導(dǎo)向的其它策略性和戰(zhàn)術(shù)性驗(yàn)證方法，目前已有可用的過程數(shù)據(jù)支持這些方法，它們是：代碼覆蓋、功能覆蓋和版本控制信息。

讓代碼覆蓋重現(xiàn)生機(jī)。代碼覆蓋數(shù)據(jù)是多年來設(shè)計(jì)和驗(yàn)證中一直可用的過程衡量標(biāo)準(zhǔn)—幾乎在設(shè)計(jì)師使用RTL之時(shí)就開始了。然而，這是一個(gè)利用率的衡量標(biāo)準(zhǔn)。通過代碼覆蓋數(shù)據(jù)可以告訴設(shè)計(jì)工程師所有代碼是否都被檢查過。這對(duì)完美驗(yàn)證來說當(dāng)然是一個(gè)必要條件，但還不夠。每行代碼都得到了執(zhí)行并不意味著器件的所有功能都得到了驗(yàn)證。

功能覆蓋有著同樣的充分性問題。由于功能覆蓋取決于覆蓋模型的構(gòu)造，不完整的模型將錯(cuò)誤地指示完整的覆蓋。

使用衡量標(biāo)準(zhǔn)組合

通過同時(shí)分析代碼和功能覆蓋，可以獲得更完整的驗(yàn)證過程圖像。附表粗略給出了三種情況。如果我們有高的功能覆蓋率和高的代碼覆蓋率，驗(yàn)證可能如期望的那樣執(zhí)行。當(dāng)然，一個(gè)遺漏的維度仍會(huì)產(chǎn)生問題。假如設(shè)計(jì)中增加了一個(gè)新功能，但還沒有實(shí)現(xiàn)或驗(yàn)證？基于性能的可執(zhí)行驗(yàn)證計(jì)劃可解決這個(gè)問題。隨著每個(gè)新功能的加入，在覆蓋被全部實(shí)現(xiàn)和跟蹤之前驗(yàn)證計(jì)劃始終會(huì)產(chǎn)生不完整的。

如果代碼覆蓋率高而功能覆蓋率低會(huì)如何？它會(huì)指出器件的測(cè)試套件相對(duì)器件的定義功能是不完整的，同時(shí)也會(huì)指示對(duì)應(yīng)于遺漏功能覆蓋的設(shè)計(jì)部分還沒有得到實(shí)現(xiàn)。

如果代碼覆蓋率低、而功能覆蓋率低會(huì)如何？它會(huì)指出功能覆蓋部分還沒有實(shí)現(xiàn)，同時(shí)也會(huì)指示存在著不提供實(shí)際功能的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)。也許是一個(gè)性能及其相應(yīng)測(cè)試代碼被刪除了，但針對(duì)這一性能的實(shí)際設(shè)計(jì)代碼還沒有被刪除。通過分析這兩種可用覆蓋衡量標(biāo)準(zhǔn)的組合，設(shè)計(jì)和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)可以獲得更完整的過程圖像。

另外一種經(jīng)常被忽視的衡量標(biāo)準(zhǔn)可以幫助驗(yàn)證：版本控制數(shù)據(jù)。版本控制數(shù)據(jù)可以是調(diào)試過程中的一個(gè)關(guān)鍵指示器。通過自動(dòng)繪制近故障相對(duì)近RTL版本的曲線圖，驗(yàn)證工程師可能快速了解潛伏性問題所在。

調(diào)試中的功能覆蓋

功能覆蓋可以用作戰(zhàn)術(shù)性過程衡量標(biāo)準(zhǔn)和策略性衡量標(biāo)準(zhǔn)。工程師可以查詢故障測(cè)試的功能覆蓋數(shù)據(jù)庫，從而確定被驗(yàn)證的器件是怎樣配置的。

隨后工程師就可查詢集合遞歸級(jí)覆蓋數(shù)據(jù)庫，以發(fā)現(xiàn)其中器件用相同方式配置的其它通過性測(cè)試。對(duì)這些通過和失敗測(cè)試之間差異的分析可以突出引起器件故障的原因。