NI推出行業(yè)動態(tài)范圍數(shù)字化儀PCI5922
出處:chunyang 發(fā)布于:2007-12-05 15:20:02
不同于傳統(tǒng)示波器或其他基于PC的數(shù)字化儀在所有采樣率上具有固定的分辨率,NI 5922數(shù)字化儀使用NI Flex II ADC技術,具有靈活的、用戶自定義的分辨率,并可在24位(500 kS/s)到16位(15 MS/s)之間任何一點進行采樣。NI Flex II ADC是一個加強的多位delta-sigma轉換器,它結合了技術,極大地降低了由多位轉換器中非線性造成的諧波,因此即便在高采樣率的情況下也可以獲得很好的動態(tài)范圍,可以幫助設計和測試工程師們直接數(shù)字化底層信號,而無需外部信號調(diào)理(例如濾波器和低噪聲放大器)。減少信號調(diào)理可以改進測量和可靠性,同時還能節(jié)省測試系統(tǒng)的開發(fā)時間和成本。由于這項技術的應用,PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀已經(jīng)獲得了多個國際獎項,包括《Test & Measurement World》雜志的2006年度測試類產(chǎn)品,以及《EDN》雜志2005年度熱門百佳產(chǎn)品獎。
工程師們借助使用PXI-5922數(shù)字化儀,已經(jīng)解決了許多要求很高的應用,例如高端音頻和超聲波測試、高分辨率數(shù)-模轉換器的特性描述,以及基帶I/Q分析等。舉例來看,Analog Devices公司使用NI PXI-5922數(shù)字化儀來為他們高分辨率的數(shù)字至模擬轉換器(DAC)確定穩(wěn)定時間。
和其他NI數(shù)字化儀一樣,工程師們可以使用這一全新的可變分辨率數(shù)字化儀,任意波形發(fā)生器和數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀在產(chǎn)品開發(fā)的任何一個階段(從設計驗證到生產(chǎn)測試)創(chuàng)建混合信號應用。設計和測試工程師們可以使用NI數(shù)字化儀,例如NI 5124 200 MS/s 12位數(shù)字化儀、NI 5122 100 MS/s 14位數(shù)字化儀以及NI PXI-5114 250 MS/s 8位數(shù)字化儀等,配合50多個內(nèi)置于NI-SCOPE驅動軟件的測量例程快速開發(fā)測量系統(tǒng)。所有的NI數(shù)字化儀都配備有該驅動軟件,并可與NI LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境、NI SignalExpress交互式測量軟件、用于Microsoft Visual Studio .NET的NI Measurement Studio和NI LabWindows/CVI ANSI C開發(fā)環(huán)境協(xié)同工作。
版權與免責聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://m.58mhw.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關法律責任。
本網(wǎng)轉載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關權利。
- 頻譜儀精準 TOI 測量的設置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設備與技術2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實用方法2025/8/27 16:31:27









