Keithley針對混合測試系統(tǒng)發(fā)布PXI產(chǎn)品線
出處:computer00 發(fā)布于:2007-12-04 11:40:25
吉時利KPIX產(chǎn)品線包含同步數(shù)據(jù)采集卡、多功能采集卡、高速模擬輸出卡、130MS/秒的數(shù)字化儀、數(shù)字I/O模塊、PXI機箱、嵌入式PC控制器、擴展卡(用于遠程PC控制)和GPIB接口卡。 KPXI產(chǎn)品設(shè)計用于與高的儀器集成,如吉時利2600系列數(shù)資源表?多通道I-V測試方案,該方案特色為TSP? 和TSP-Link?讓用戶編寫和執(zhí)行高速、自動化的并聯(lián)多通道測試序列--不受PC操作系統(tǒng)及其相關(guān)的通訊延遲的限制。使用分布編程和同步執(zhí)行的靈活性,給測試工程師以設(shè)計系統(tǒng)的自由:既能化產(chǎn)出和度,又有豐富的儀器和數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品可供選擇。 了解KPXI產(chǎn)品詳情,敬請訪問https://www.keithley.cn/pr/064。
業(yè)界需要混合測試系統(tǒng)
吉時利儀器公司市場總監(jiān)Mark Cejer表示:"現(xiàn)今生產(chǎn)測試工程師面臨與日俱增的壓力,要化產(chǎn)出并將產(chǎn)品更快地推向市場。 除需決定進行測量的類型,還必須克服選擇儀器和電腦接口的類型這一復雜因素以終實現(xiàn)性能和速度的組合。吉時利業(yè)界的高測量產(chǎn)品和PXI、LXI以及GPIB方案的組合,幫助工程師僅依靠一個供應(yīng)商、只需建立一個為其應(yīng)用優(yōu)化過的混合測試系統(tǒng),就實現(xiàn)所有需求,。"
KPXI用于混合測試系統(tǒng)
吉時利KPXI產(chǎn)品線符合PXI標準,包括軟件示例和驅(qū)動程序,兼容LabView?、Microsoft .net、Visual Basic和C編程語言。
KPXI產(chǎn)品線包含如下部分:
"同步數(shù)據(jù)采集卡(KPXI-SDAQ) -同步數(shù)據(jù)采集卡用于16位分辨率的并行多通道數(shù)據(jù)采集,加上模擬輸出和數(shù)字I/O。獨立的通道和增益序列允許在掃描中重復使用通道以簡化編程并提高速度。
"多功能數(shù)據(jù)采集卡(KPXI-DAQ) -多功能卡具有多路模擬輸入,采樣率高達3MS/秒,可用于需求多達96通道的高速應(yīng)用,加上模擬輸出、開關(guān)量輸入/輸出和計數(shù)器/計時器。 這些板卡與多數(shù)同類產(chǎn)品相比提供少50%的速度優(yōu)勢,并且在許多應(yīng)用中擁有的每通道成本。
"高速模擬輸出卡(KPXI-AO) -這一板卡系列提供速率達到1MS/秒的模擬輸出,相當于PCI或USB提供的更新速率的1000倍。 其提供的波形質(zhì)量輸出與混合系統(tǒng)中的儀器能力非常匹配。
"數(shù)字化儀模塊 (KPXI-AI) -這一模塊允許采樣速度高達 130MS/秒,并且具有與模擬測量同步的鎖存數(shù)字輸入。 它具有14位分辨率和512MB內(nèi)存,能實現(xiàn)比同類產(chǎn)品更長的連續(xù)采樣。
"數(shù)字I/O 模塊 (KPXI-DIO) - 數(shù)字I/O模塊組提供廣泛的數(shù)字I/O功能和特性,包括計時器和延遲輸出。 所有板卡使用相同的驅(qū)動程序,簡便易用,且提供高速握手時和與混合系統(tǒng)中的儀器更快速的通訊和測試。
"PXI機箱(KPXI-SYS) - 這些3U機箱提供多達18插槽,堅固耐用且比同類產(chǎn)品價格更低,尤其在使用大型的系統(tǒng)時。
"擴展卡 (KPXI-CON) - 該系列包括嵌入式PC擴展卡和用于遠程PC控制的擴展卡。 嵌入式控制器預裝硬件驅(qū)動備份軟件、WIN XP、KI-DAQ驅(qū)動和測試代碼示例。 測試證實其適合高可靠性的混合系統(tǒng)。
"GPIB接口 (KPXI-488) -這一符合IEEE-488標準的接口可方便地連接到GPIB儀器以建立高性能的混合系統(tǒng)且無任何通訊問題。
版權(quán)與免責聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://m.58mhw.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權(quán)等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 頻譜儀精準 TOI 測量的設(shè)置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設(shè)備與技術(shù)2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實用方法2025/8/27 16:31:27









