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請(qǐng)問(wèn)CAN的BASIC MODE為什么會(huì)是在測(cè)試模式中？ |
| 作者：cgha 欄目：MCU技術(shù) |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： John_light 于 2007/1/17 9:03:00 發(fā)布：
進(jìn)入測(cè)試模式與否與設(shè)置有關(guān) TEST Mode is entered by setting the TEST bit in the CAN CONTROL Register to one. In TEST Mode the bits Tx1, Tx0, LBack, Silent and Basic in the TEST Register are writable. Bit Rx monitors the state of the CAN_RX pin and therefore is ONLY readable. All TEST Register functions are disabled when the TEST bit is reset to zero. |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： CGHA 于 2007/1/17 9:13:00 發(fā)布：
我的意思是他可以作為簡(jiǎn)單的應(yīng)用而不是測(cè)試 可以作為單節(jié)點(diǎn)的應(yīng)用。不知道大家用CAN都是什么樣子的？ |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： cgha 于 2007/1/17 22:29:00 發(fā)布：
是單報(bào)文對(duì)象，不是節(jié)點(diǎn)，說(shuō)錯(cuò)了。。。 |
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