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新想法! |
| 作者：ywjxx 欄目：技術(shù)交流 |
數(shù)字電路中通常使用0或1高低電平來(lái)表示兩種狀態(tài),但要表示高阻狀態(tài)用什么值來(lái)表示呢?假如我們要用MCU來(lái)檢測(cè)其I/O口是否懸空要使用怎樣的方法來(lái)處理呢? |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： HWM 于 2006/12/29 9:51:00 發(fā)布：
高阻為“不定值” |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： thw 于 2006/12/29 10:02:00 發(fā)布：
這個(gè)。。。 檢測(cè)的話就是輸入口，輸入口是不允許懸空的 |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： ywjxx 于 2006/12/29 11:05:00 發(fā)布：
難道就真的沒(méi)有辦法嗎? 真的沒(méi)有辦法確定高阻狀態(tài)?無(wú)法使用MCU來(lái)確定其輸入腳是否懸空? |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： awey 于 2006/12/29 11:26:00 發(fā)布：
方法： 通過(guò)一個(gè)大電阻（幾M歐），加0時(shí)此腳為0，加1時(shí)此腳為1 |
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| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： chunyang 于 2006/12/29 12:43:00 發(fā)布：
可以用MCU的模擬比較器或AD輸入引腳來(lái)進(jìn)行判別 |
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| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： mikesullen 于 2006/12/29 13:36:00 發(fā)布：
不知樓主想做什么？ 感覺(jué)這不是什么問(wèn)題呀？ |
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| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： ywjxx 于 2006/12/29 20:57:00 發(fā)布：
我是想用在無(wú)線遙控解碼用的! 是為了增加地址碼,因?yàn)橐话阄覀僆/O口只能識(shí)別高低電平,例如我用的MCU只有多的8只腳供我使用當(dāng)做地址碼.如果每只引腳只有高低電平兩種狀態(tài)的話,那我的地址碼只能設(shè)256個(gè)唯一的地址,如果我引用高阻狀態(tài)即引腳懸空這種狀態(tài)的話,那我每個(gè)引腳就有三種狀態(tài)了,可以設(shè)6561個(gè)唯一的地址,可以節(jié)省不少的I/O口啊! |
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| 9樓： | >>參與討論 |
| 作者： tyw 于 2006/12/29 21:33:00 發(fā)布：
編碼器有三態(tài)功能呀 不過(guò)這個(gè)第三態(tài)不容易通過(guò)安防測(cè)試 |
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| 10樓： | >>參與討論 |
| 作者： 赤鑄 于 2006/12/29 22:34:00 發(fā)布：
如awey所說(shuō) 檢測(cè)三態(tài)就是對(duì)口進(jìn)行“弱驅(qū)動(dòng)”，也就是通過(guò)電阻（5k～50k 都差不多，幾 M 似乎太大）驅(qū)動(dòng)，同時(shí)檢測(cè)其實(shí)際電平： 如果源是低阻的，電平由源決定，與弱驅(qū)動(dòng)狀態(tài)無(wú)關(guān) 如果源是高阻的，電平由弱驅(qū)動(dòng)決定 所以只要由弱驅(qū)動(dòng)各輸出一次 L 和 H，再讀回狀態(tài)，就可以作出判斷了 但這種方法有漏洞：源狀態(tài)在這期間必須穩(wěn)定，如果源狀態(tài)是變化的，而且恰好和你的弱驅(qū)動(dòng)同步（不能排除這種巧合），就會(huì)作出錯(cuò)誤判斷 而且從上面可以發(fā)現(xiàn)一個(gè)致命的問(wèn)題：這種方法需要兩個(gè)口，一個(gè)輸出弱驅(qū)動(dòng)，一個(gè)讀入！兩個(gè)口本來(lái)可以輸入 4 種狀態(tài)的…… |
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| 11樓： | >>參與討論 |
| 作者： 赤鑄 于 2006/12/29 22:37:00 發(fā)布：
也可以只用一個(gè)口 也就是利用一個(gè)小電容短時(shí)維持端口狀態(tài)，讓雙向 I/O 口分別輸出 H 和 L，并立即讀回。 這種方案讓人感覺(jué)不太可靠，而且影響信號(hào)的速度 |
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| 12樓： | >>參與討論 |
| 作者： mikesullen 于 2007/1/3 13:56:00 發(fā)布：
其實(shí)就是IO擴(kuò)展。。 IO擴(kuò)展的方法很多，對(duì)你來(lái)說(shuō)主要是選擇低成本的，加點(diǎn)電阻，電容，應(yīng)該是可以的，類(lèi)似于樓上的說(shuō)法。。。 |
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| 13樓： | >>參與討論 |
| 作者： ywjxx 于 2007/1/4 8:16:00 發(fā)布：
各位樓上的朋友們,我已有方法檢測(cè)了且已通過(guò)驗(yàn)證! MCU檢測(cè)I/O口是否懸空(即高阻狀態(tài))不需要加任何外部元件,只要利用MCU內(nèi)部的上拉或下拉電阻就可以了,我已經(jīng)驗(yàn)證過(guò)沒(méi)問(wèn)題的,完全可以檢測(cè)出I/O口是外接高電平,或低電平,或引腳懸空三種狀態(tài). |
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| 14樓： | >>參與討論 |
| 作者： xwj 于 2007/1/4 8:41:00 發(fā)布：
反正“三態(tài)功能”是需要一堆東西配合才能檢測(cè)的， 要么片內(nèi)有，要么片外加 不同單片機(jī)IO口能配置的功能不一樣的： 有的IO固定上拉 有的IO上拉可關(guān)斷 有的IO上拉、下拉都可關(guān)斷接通 專用的編碼器IC可以在片內(nèi)集成懸空時(shí)的偏置和檢測(cè)電路 因此 能否檢測(cè)和用什么方法檢測(cè) 對(duì)于不同IC是不能一概而論的 要么片內(nèi)有，要么片外加些電路，“三態(tài)功能”并不是多難的事 但要檢測(cè)“懸空”，那就要看IC內(nèi)有什么了 |
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