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關(guān)于IC測(cè)試 |
| 作者：wwwshenjie 欄目：IC產(chǎn)業(yè) |
在下剛剛?cè)胄校鯥C測(cè)試，請(qǐng)問(wèn)做IC測(cè)試從那方面入手，誰(shuí)有相關(guān)資料和相關(guān)的經(jīng)驗(yàn)請(qǐng)讓大家分享以下，請(qǐng)各位資深I(lǐng)C測(cè)試工程師不吝指教。在此謝過(guò)！ |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： jgtsui 于 2006/11/28 23:04:00 發(fā)布：
？！ 好好看書��！ * - 本貼最后修改時(shí)間：2006-11-28 23:27:46 修改者：jgtsui |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： wwwshenjie 于 2006/11/28 23:29:00 發(fā)布：
請(qǐng)問(wèn)需要看那些書��？ 請(qǐng)問(wèn)需要看那些書啊？ 煩勞給推薦基本相關(guān)的書籍，謝謝！ |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： 156232212 于 2006/11/29 17:45:00 發(fā)布：
我也想知道�。� 有誰(shuí)能指點(diǎn)一下嗎？ |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： jgtsui 于 2006/12/1 16:09:00 發(fā)布：
推薦幾本 TR系列的資料吧 |
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| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： wwwshenjie 于 2006/12/2 13:42:00 發(fā)布：
TR資料 最近搜了一些TR的資料，有TR6010，TR6800。不過(guò)不太詳細(xì)，只有四頁(yè)文檔，那位有更詳細(xì)的資料請(qǐng)和大家分享，在次謝過(guò)！ |
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| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： apats 于 2006/12/9 13:32:00 發(fā)布：
推薦幾本關(guān)于IC測(cè)試的書籍 國(guó)內(nèi)的書籍有: 集成電路測(cè)試技術(shù)(好象新出版的) 國(guó)外的可以參考: An Introduction to Mixed-Signal IC TEST and measurement The Fundamentals Of DIGITAL SEMICONDUCTOR Testing |
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| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： code631 于 2006/12/14 2:34:00 發(fā)布：
IC Testing的圣經(jīng) Softtest的書，google一下吧，大概100美元一本，可以郵購(gòu) |
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| 9樓： | >>參與討論 |
| 作者： wwwshenjie 于 2006/12/15 16:21:00 發(fā)布：
謝謝大家指點(diǎn) 謝謝大家指點(diǎn)，還請(qǐng)大家多多交流。 |
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| 10樓： | >>參與討論 |
| 作者： cecclab 于 2006/12/23 16:42:00 發(fā)布：
提供一些資料,希望對(duì)您有用 IC專業(yè)知識(shí)培訓(xùn)-主要針對(duì)貿(mào)易商銷售人員及工廠采購(gòu)人員 專業(yè)知識(shí)培訓(xùn)---幫您提高團(tuán)隊(duì)綜合實(shí)力，贏得更多商機(jī) 培訓(xùn)目的：提高公司團(tuán)隊(duì)綜合素質(zhì)，增強(qiáng)企業(yè)潛在競(jìng)爭(zhēng)力，打造專業(yè)貿(mào)易品牌企業(yè)，為企業(yè)贏得更多商機(jī)。 培訓(xùn)對(duì)象： 銷售人員、采購(gòu)人員、質(zhì)管人員。 講師資格：碩士或碩士以上學(xué)歷，扎實(shí)的專業(yè)知識(shí)和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，從業(yè)經(jīng)驗(yàn)5年以上。 培訓(xùn)內(nèi)容： 套件一 （3個(gè)課時(shí)） 理論概念 + 圖示講解 = 導(dǎo)入型 半導(dǎo)體的發(fā)展及IC產(chǎn)業(yè)發(fā)展的趨向 IC的分類：從用途方面講、從功能角度講、從工藝流程講 IC的命名原則及辨識(shí)技巧 IC的封裝及生產(chǎn)工藝概論 IC的質(zhì)量控制方法及常規(guī)的檢測(cè)方法 IC運(yùn)輸及儲(chǔ)存環(huán)境的要求 IC測(cè)試概念的建立 套件二（6個(gè)課時(shí)） 套件一 + 理論加強(qiáng) + 案例分析 = 理解型 套件一涉及的所有內(nèi)容 元器件資料的搜集技巧及閱讀方法 冷偏、停產(chǎn)器件的替代型號(hào)查找方法及分析思路 IC測(cè)試方法的講解及最簡(jiǎn)單的測(cè)試方法演示 IC測(cè)試級(jí)別的分類及測(cè)試方法的概論 IC測(cè)試案例的講解 接受培訓(xùn)所能達(dá)到的能力： 對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)有更深的了解，掌握IC型號(hào)的辨認(rèn)方法及IC質(zhì)量的控制技能，掌握器件替代型號(hào)的查詢及分析，能更專業(yè)地為客戶提供元器件供應(yīng)服務(wù)。 授課形式： 可以在客戶公司會(huì)議室進(jìn)行，也可以在CECC實(shí)驗(yàn)室特定教學(xué)點(diǎn)進(jìn)行。 詳情請(qǐng)點(diǎn)擊： http://www.cecc.hk/fuwu/gongchengxiangmu/zaimaishichang/peixun-1.html www.cecc.hk 電話：0755-21817852 / 26631956 傳真：0755-26633285 郵箱：lab@cecc.hk 網(wǎng)址：www.cecc.hk MSN：lab@cecc.hk(lab@cecc.hk) SKYPE：szictest QQ：88048436 聯(lián)系人：陳先生 |
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| 11樓： | >>參與討論 |
| 作者： xujianming 于 2006/12/23 22:27:00 發(fā)布：
可以去WWW.2IC.CN上看 可以去WWW.2IC.CN上看 |
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| 12樓： | >>參與討論 |
| 作者： 決戰(zhàn) 于 2006/12/28 20:55:00 發(fā)布：
支持 TR6.0確實(shí)不錯(cuò)的! 師傅領(lǐng)近門學(xué)習(xí)靠自身啊. 加油! |
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