|
|||||||||||
| 技術(shù)交流 | 電路欣賞 | 工控天地 | 數(shù)字廣電 | 通信技術(shù) | 電源技術(shù) | 測控之家 | EMC技術(shù) | ARM技術(shù) | EDA技術(shù) | PCB技術(shù) | 嵌入式系統(tǒng) 驅(qū)動編程 | 集成電路 | 器件替換 | 模擬技術(shù) | 新手園地 | 單 片 機 | DSP技術(shù) | MCU技術(shù) | IC 設(shè)計 | IC 產(chǎn)業(yè) | CAN-bus/DeviceNe |
關(guān)于IC內(nèi)部損壞 |
| 作者：浪淘沙 欄目：集成電路 |
請看一下我們在這方面給客戶的建議：生產(chǎn)線上靜電防護的“三大紀律八項注意” |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： code631 于 2006/12/14 2:18:00 發(fā)布：
怎么才能更好的判斷一個IC的好壞？ 1）怎么才能更好的判斷一個IC的好壞？ 全面測試需要測試系統(tǒng)支持，測試包括AC，DC，Parametric，F(xiàn)unctional等 2）IC損壞一般都是有哪些主要原因造成的？ ESD常見與應(yīng)用中損害，或者Overstress等，過壓過流，出廠前損壞原因太多，不一一詳述了。 |
|
| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： cecclab 于 2006/12/22 9:21:00 發(fā)布：
歡迎和我們IC測試工程師進行經(jīng)驗交流! CECC IC測試實驗室服務(wù)范圍 集成電路測試、篩選： 集成電路設(shè)計驗證 集成電路功能測試、參數(shù)測試 集成電路質(zhì)量一致性檢驗 集成電路老化、篩選試驗 集成電路壽命試驗 高校集成電路知識實戰(zhàn)平臺： 高校教師學(xué)術(shù)交流窗口 高年級學(xué)生實踐實習(xí)基地 集成電路可靠性評估： ESD等級、Latch-up測試評估 裸芯片測試、老化、篩選評估 集成電路贗品鑒定: 再賣市場的集成電路贗品鑒定 制造工廠來料質(zhì)量管理體系完善: 指導(dǎo)工廠完善來料質(zhì)量管理體系 培訓(xùn)質(zhì)檢人員掌握集成電路測試理論與方法 專業(yè)制作完善PDF格式中英文資料: 提供專業(yè)的半導(dǎo)體中英文資料翻譯 提供專業(yè)的半導(dǎo)體行業(yè)美工設(shè)計指導(dǎo) www.cecc.hk 電話：0755-21817852 / 26631956 傳真：0755-26633285 郵箱：lab@cecc.hk 網(wǎng)址：www.cecc.hk MSN：lab@cecc.hk SKYPE：szictest QQ：88048436 |
|
|
|
| 免費注冊為維庫電子開發(fā)網(wǎng)會員，參與電子工程師社區(qū)討論，點此進入 |
Copyright © 1998-2006 m.58mhw.cn 浙ICP證030469號 |