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單片機開發(fā)中應(yīng)掌握的幾個基本技巧 |
| 作者:wawawa 欄目:單片機 |
單片機開發(fā)中應(yīng)掌握的幾個基本技巧 更多精彩請您訪問:[url]http://www.****.com/index.asp?i=wangfei
一、 如何提高C語言編程代碼的效率 鄧宏杰指出,用C語言進行單片機程序設(shè)計是單片機開發(fā)與應(yīng)用的必然趨勢。他強調(diào):“如果使用C編程時,要達到最高的效率,最好熟悉所使用的C編譯器。先試驗一下每條C語言編譯以后對應(yīng)的匯編語言的語句行數(shù),這樣就可以很明確的知道效率。在今后編程的時候,使用編譯效率最高的語句! 他指出,各家的C編譯器都會有一定的差異,故編譯效率也會有所不同,優(yōu)秀的嵌入式系統(tǒng)C編譯器代碼長度和執(zhí)行時間僅比以匯編語言編寫的同樣功能程度長5-20%。他說:“對于復(fù)雜而開發(fā)時間緊的項目時,可以采用C語言,但前提是要求你對該MCU系統(tǒng)的C語言和C編譯器非常熟悉,特別要注意該C編譯系統(tǒng)所能支持的數(shù)據(jù)類型和算法。雖然C語言是最普遍的一種高級語言,但由于不同的MCU廠家其C語言編譯系統(tǒng)是有所差別的,特別是在一些特殊功能模塊的操作上。所以如果對這些特性不了解,那么調(diào)試起來問題就會很多,反而導(dǎo)致執(zhí)行效率低于匯編語言! 二、 如何減少程序中的bug? 對于如何減少程序的bug,鄧宏杰給出了一些建議,他指出系統(tǒng)運行中應(yīng)考慮的超范圍管理參數(shù)有: 1.物理參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)的輸入?yún)?shù),它包括激勵參數(shù)、采集處理中的運行參數(shù)和處理結(jié)束的結(jié)果參數(shù)。合理設(shè)定這些邊界,將超出邊界的參數(shù)都視為非正常激勵或非正;貞(yīng)進行出錯處理。 2.資源參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)中的電路、器件、功能單元的資源,如記憶體容量、存儲單元長度、堆疊深度。在程式設(shè)計中,對資源參數(shù)不允許超范圍使用。 3.應(yīng)用參數(shù)。這些應(yīng)用參數(shù)常表現(xiàn)為一些單片機、功能單元的應(yīng)用條件。如E2PROM的擦寫次數(shù)與資料存儲時間等應(yīng)用參數(shù)界限。 4.過程參數(shù)。指系統(tǒng)運行中的有序變化的參數(shù)。 三、如何解決單片機的抗干擾性問題 鄧宏杰指出:防止干擾最有效的方法是去除干擾源、隔斷干擾路徑,但往往很難做到,所以只能看單片機抗干擾能力夠不夠強了。單片機干擾最常見的現(xiàn)象就是復(fù)位;至于程序跑飛,其實也可以用軟件陷阱和看門狗將程序拉回到復(fù)位狀態(tài);所以單片機軟件抗干 擾最重要的是處理好復(fù)位狀態(tài).一般單片機都會有一些標(biāo)志寄存器,可以用來判斷復(fù)位原因;另外你也可以自己在RAM中埋一些標(biāo)志。在每次程序復(fù)位時,通過判斷這些標(biāo)志,可以判斷出不同的復(fù)位原因;還可以根據(jù)不同的標(biāo)志直接跳到相應(yīng)的程序。這樣可以使程序運行有連續(xù)性,用戶在使用時也不會察覺到程序被重新復(fù)位過。 四、 如何測試單片機系統(tǒng)的可靠性 有讀者希望了解用用什么方法來測試單片機系統(tǒng)的可靠性,鄧宏杰指出:“當(dāng)一個單片機系統(tǒng)設(shè)計完成,對于不同的單片機系統(tǒng)產(chǎn)品會有不同的測試項目和方法,但是有一些是必須測試的: 1.測試單片機軟件功能的完善性。這是針對所有單片機系統(tǒng)功能的測試,測試軟件是否寫的正確完整。 2.上電、掉電測試。在使用中用戶必然會遇到上電和掉電的情況,可以進行多次開關(guān)電源,測試單片機系統(tǒng)的可靠性。 3.老化測試。測試長時間工作情況下,單片機系統(tǒng)的可靠性。必要的話可以放置在高溫,高壓以及強電磁干擾的環(huán)境下測試。 4、ESD和EFT等測試。可以使用各種干擾模擬器來測試單片機系統(tǒng)的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統(tǒng)的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。 鄧宏杰強調(diào):“還可以模擬人為使用中,可能發(fā)生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統(tǒng)的接觸端口,由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機系統(tǒng)工作,由此測試抗電磁干擾能力等! |
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| 作者: wqwq198501 于 2006/12/3 8:25:54 發(fā)布:
ESD和EFT等測試?梢允褂酶鞣N干擾模擬器來測試單片機系統(tǒng)的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統(tǒng)的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。 |
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| 作者: pisir7625314 于 2006/12/3 9:12:01 發(fā)布:
好帖,頂! |
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| 作者: xueerxl 于 2006/12/7 14:05:49 發(fā)布:
真的很好! |
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| 作者: AFu 于 2006/12/15 18:09:42 發(fā)布:
說得好 |
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| 作者: hyz_os 于 2006/12/15 19:36:35 發(fā)布:
不錯.頂一下 |
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| 作者: qqqqje 于 2006/12/16 6:29:54 發(fā)布:
行,頂一個 |
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| 作者: 蕭臺基 于 2006/12/16 8:54:22 發(fā)布:
如何減少程序中的bug? 如果接幾個例子就好 |
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| 作者: wangyanshuai 于 2006/12/16 13:10:16 發(fā)布:
呵呵,好是好,就是有點少,再多講點就好了,受益,頂 |
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