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NOR FLASH 的數(shù)據(jù)被破壞 |
| 作者：xyh8421 欄目：ARM技術(shù) |
現(xiàn)在本人遇到FLASH里面的數(shù)據(jù)會被坡壞,重新寫后就好了.比率大概為1%.哪位大俠有類似的經(jīng)驗(yàn),請賜教. |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： eleven11 于 2006/10/19 11:01:00 發(fā)布：
比率大概為1% 這個比率是很正常的，一般都是用ecc效驗(yàn)的 |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： xyh8421 于 2006/10/19 16:50:00 發(fā)布：
汗!! |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： xyh8421 于 2006/10/19 16:52:00 發(fā)布：
有點(diǎn)夸張了吧,這么高還正常啊 再加上其他的問題,總的故障率就很高了 |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： magicchip 于 2006/10/19 16:53:00 發(fā)布：
不會吧 |
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| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： mgarm 于 2006/10/19 16:58:00 發(fā)布：
不會吧,NAND FLASH還差不多. |
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| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： yappy 于 2006/10/20 10:17:00 發(fā)布：
reply ecc校驗(yàn)是用在 nand FLASH 上的， nor FLASH 一般不需校驗(yàn)處理，只存在擦除次數(shù)壽命的問題。 你最好檢查一下復(fù)位電路， 控制器啟動需要一點(diǎn)時間， 假如控制器與 FLASH 同時上電/復(fù)位的話，中間會有一段不穩(wěn)定的電平狀態(tài)， 如果這時候不穩(wěn)定的電平狀態(tài)時序碰巧和 FLASH 的擦寫時序一致的話， FLASH 中的數(shù)據(jù)會修改或擦除。 我碰到過這樣的情況，數(shù)據(jù)寫入 FLASH 之后， 有時候有啟動不了，讀出里面的數(shù)據(jù)并比較，發(fā)現(xiàn)已經(jīng)被修改了。 修改上電順序和復(fù)位電路后，這種情況不再出現(xiàn)。 |
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| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： wangkj 于 2006/10/20 11:24:00 發(fā)布：
碰到過，是程序bug nor FLASH不應(yīng)該出現(xiàn)這種問題，查你的硬件和軟件吧。 |
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