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介紹一下信號(hào)完整性方面的知識(shí)， |
| 作者：群魔亂舞 欄目：技術(shù)交流 |
包括信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題的危害、產(chǎn)生原因和解決建議 現(xiàn)在的高速數(shù)字系統(tǒng)的時(shí)鐘頻率可能高達(dá)數(shù)百兆Hz，其快斜率瞬變和極高的工作頻率，以及很大的電路密集度，必將使得系統(tǒng)表現(xiàn)出與低速設(shè)計(jì)截然不同的行為，出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。破壞了信號(hào)完整性將直接導(dǎo)致信號(hào)失真、定時(shí)錯(cuò)誤，以及產(chǎn)生不正確數(shù)據(jù)、地址和控制信號(hào)，從而造成系統(tǒng)誤工作甚至導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰。因此，信號(hào)完整性問(wèn)題已經(jīng)越來(lái)越引起高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)人員的關(guān)注。 如果電路中信號(hào)能夠以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)IC，則該電路具有較好的信號(hào)完整性。反之，當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)時(shí)，就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。SI（Signal Integrity）解決的是信號(hào)傳輸過(guò)程中的質(zhì)量問(wèn)題，尤其是在高速領(lǐng)域，數(shù)字信號(hào)的傳輸不能只考慮邏輯上的實(shí)現(xiàn)，物理實(shí)現(xiàn)中數(shù)字器件開(kāi)關(guān)行為的模擬效果往往成為設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵。 |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： 群魔亂舞 于 2006/10/17 20:16:00 發(fā)布：
go on 正過(guò)沖 危害 1、閂鎖損傷器件（>VCC/VDD），對(duì)器件沖擊造成器件損壞； 2、形成干擾源，對(duì)其它器件造成串?dāng)_。 產(chǎn)生原因： 1、其它相鄰信號(hào)串?dāng)_； 2、器件驅(qū)動(dòng)能力太強(qiáng)； 3、沒(méi)有匹配或者匹配不當(dāng)。 解決建議： 1、PCB布線避開(kāi)干擾源和耦合路徑； 2、增加電阻匹配，參考做法是始端串電阻或者末端并阻抗（電阻），減少過(guò)沖。 |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： 群魔亂舞 于 2006/10/17 20:17:00 發(fā)布：
負(fù)過(guò)沖 負(fù)過(guò)沖 危害 1、閂鎖損傷器件（< VEE/GND），對(duì)器件沖擊造成器件損壞； 2、管腳上的負(fù)電壓可能使器件PN襯底（寄生二極管）前向偏置，流過(guò)的大電流大于1安時(shí)，熔斷鍵絲產(chǎn)生開(kāi)路。 產(chǎn)生原因 1、其它相鄰信號(hào)串?dāng)_； 2、器件驅(qū)動(dòng)能力太強(qiáng)； 3、沒(méi)有匹配或者匹配不當(dāng)。 解決建議 1、PCB布線避開(kāi)干擾源和耦合路徑； 2、增加電阻匹配，參考做法是始端串電阻或者末端并阻抗（電阻），減少過(guò)沖。 |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： 群魔亂舞 于 2006/10/17 20:17:00 發(fā)布：
關(guān)于閂鎖 閂鎖：關(guān)于閂鎖的概念可以參考《數(shù)字電路》這一類教材。現(xiàn)在由于廠家工藝改進(jìn)，閂鎖問(wèn)題基本上可以得到規(guī)避。但是長(zhǎng)時(shí)間的信號(hào)過(guò)沖會(huì)使得器件失效率增加（尤其是負(fù)過(guò)沖）。 |
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