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lpc932a1的eeprom數(shù)據(jù)容易丟失 |
| 作者:chinasunfa 欄目:MCU技術(shù) |
當(dāng)使用外部晶振時(6MHZ),lpc932a1的EEPROM數(shù)據(jù)容易丟失,是什么原因? |
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| 作者: zlgmcu 于 2006/6/18 23:51:00 發(fā)布:
re 根據(jù)經(jīng)驗, 大多數(shù)情況都是程序跑飛導(dǎo)致的EEPROM被改寫, 只要處理好程序,,這種問題可以在很大程度上得到改善. 比如以前及現(xiàn)在,有很多工程師經(jīng)常也在說,他們系統(tǒng)中的外部EEPROM容易被改寫.一樣的道理. |
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| 作者: chinasunfa 于 2006/6/19 7:53:00 發(fā)布:
to zlgmcu 可是,我選用內(nèi)部RC,沒有這個問題。是不是用外部晶體,lpc932a1的抗干擾性差?我該如何解決這個問題? |
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| 作者: zlgmcu 于 2006/6/19 16:49:00 發(fā)布:
re LPC900的內(nèi)部RC時鐘系統(tǒng)非常穩(wěn)定, 很多其他公司單片機(jī)不能正常運(yùn)行的條件下,LPC900使用內(nèi)部RC依然可以正常工作, 處理方法: 比如在EEPROM多個地址中寫入數(shù)據(jù). 加入條件判定,參數(shù)判定等. |
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| 作者: 云中月8888 于 2006/6/23 16:50:00 發(fā)布:
LPC932用外部晶體抗干擾比較差 |
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| 作者: lpc9xx 于 2006/6/24 9:47:00 發(fā)布:
在程序開始加入200MS的延時! 在程序開始加入200MS的延時! |
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| 作者: lpc9xx 于 2006/6/24 9:50:00 發(fā)布:
用Lpc936的程序 /***************************************************** 主程序開始 ******************************************************/ void main (void){ Init_IO(); Init_Fout(); Init_Pwm(); Init_T0T1(); Init_SD0432 (); InitLcd(); Delay10us(25000); //********************************************* Jb_First(); //初次上電檢測 這是它的通病!上電不可靠!可以反復(fù)抖動電源,EEROM中的數(shù)據(jù)絕對丟失! |
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| 作者: zlgmcu 于 2006/6/24 10:51:00 發(fā)布:
re 在網(wǎng)上搜索 "EEPROM 丟失" 關(guān)于此類的貼子,文章,成千上萬. 我們總不能說那些問題是ATMEL的EEPROM,Catalyst的EEPROM,MICROCHIP的EEPROM通病吧. 凡是有經(jīng)驗的工程師也許曾經(jīng)都接觸過此類問題,并解決過。 |
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| 作者: 云中月8888 于 2006/6/25 18:51:00 發(fā)布:
lpc900 用片內(nèi)rc振蕩器可靠性確實很好,但用外部晶震可靠性卻很差 具體表現(xiàn): 1.如果程序不加密,配置位容易丟失.(新版本已經(jīng)解決) 2.eeprom數(shù)據(jù)容易丟失. 用內(nèi)部rc電路卻沒有這些問題. |
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| 作者: zlgmcu 于 2006/6/25 23:24:00 發(fā)布:
re 關(guān)于EEPROM丟數(shù)據(jù)的處理方法: 1.比如在EEPROM多個地址中寫入數(shù)據(jù). 2.加入條件判定,參數(shù)判定等. 3.注意上,下電時的程序處理.這一點是最重要的 |
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| 作者: QD_LAO 于 2006/7/4 13:28:00 發(fā)布:
我一向都是沒內(nèi)部晶振 沒必要用外部,為什么還用外部的 |
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| 12樓: | >>參與討論 |
| 作者: 云中月8888 于 2006/7/4 20:53:00 發(fā)布:
有些必須用外部晶振 有些項目要求精確的定時器,當(dāng)然要用外部晶振了 |
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| 作者: 棍棍 于 2006/9/6 13:04:00 發(fā)布:
R EEROM數(shù)據(jù)確實會改變不可靠! * - 本貼最后修改時間:2006-9-6 13:09:40 修改者:棍棍 |
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| 14樓: | >>參與討論 |
| 作者: zjb1180 于 2006/9/6 15:32:00 發(fā)布:
注意CPU供電電源電路 |
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| 15樓: | >>參與討論 |
| 作者: zlgmcu 于 2006/9/6 15:44:00 發(fā)布:
re 工控場合中, 以前的工程師操作24cxx,經(jīng)常出現(xiàn)EEPROM數(shù)據(jù)出錯的情況, 這幾年 復(fù)位器件流行起來了,可以在很大程度上解決這個問題. http://www.zlgmcu.com/catalyst/reset.asp |
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| 16樓: | >>參與討論 |
| 作者: elex 于 2006/9/8 23:37:00 發(fā)布:
這款mcu真垃圾 以前公司生產(chǎn)過一批產(chǎn)品用的就是這個MCU,用外部晶振會有相當(dāng)一部分損壞,最后公司不得不將已經(jīng)生產(chǎn)和銷售的產(chǎn)品收回rework一次,改成使用內(nèi)部RC振蕩.前幾天我再用這個MCU接手機(jī)收短信,插拔幾下MCU的IO就壞了,換了幾塊mcu都是這樣,加保護(hù)電路也不太好使,讓人用起來象走鋼絲. |
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| 17樓: | >>參與討論 |
| 作者: 王紫豪 于 2006/9/11 11:45:00 發(fā)布:
樓上的,這個mcu沒那么弱巴! |
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| 18樓: | >>參與討論 |
| 作者: zjb1180 于 2006/9/13 18:29:00 發(fā)布:
不會吧 做好電源電路,復(fù)位電路,對EEPROM數(shù)據(jù)保護(hù)有好處 IO燒壞,是不是IO配置有問題? |
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