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RC內(nèi)部振蕩電路設(shè)計(jì)問題

作者:entertest 欄目:IC設(shè)計(jì)
RC內(nèi)部振蕩電路設(shè)計(jì)問題
要設(shè)計(jì)一個(gè)芯片內(nèi)部的RC振蕩電路(不帶晶體),頻率為32768,精度為—+2%,請問設(shè)計(jì)過該電路的給點(diǎn)經(jīng)驗(yàn),或者提供點(diǎn)相關(guān)資料看看。謝謝

2樓: >>參與討論
huahl
電阻電容內(nèi)置嗎
rc的內(nèi)置,外置相差很大的,內(nèi)置的還要看工藝的

3樓: >>參與討論
flushrat
主題:RC內(nèi)部振蕩電路設(shè)計(jì)問題
用ring-oscillator,然后分頻
2%比較難
據(jù)我所知4%左右差不多,2%沒試過

4樓: >>參與討論
entertest
謝謝上面兩位

to flushart
如果只是用ring-oscillator,32768HZ需要用很多級非門,擔(dān)心版圖面積過大,同時(shí)非門的傳輸延遲和溫度的關(guān)系太大了.
有沒有其他頻率補(bǔ)償技術(shù)可以利用的(CMOS工藝).
to huahl
我用的是內(nèi)置rc,考慮到面積,不可能取太大的r和c,同時(shí)又要考慮到功耗,感覺有點(diǎn)難。


5樓: >>參與討論
entertest
有兩個(gè)方向,大家比較一下
想了兩個(gè)方向,如圖(1)和(2),(1)中的R2可以用來降低電源對頻率的影響。想問問大家這兩個(gè)圖各有什么優(yōu)缺點(diǎn),還可不可采用其他更好的結(jié)構(gòu)。

6樓: >>參與討論
entertest
自己頂
沒有人頂,就自己頂一下

7樓: >>參與討論
zhang_2000
對于第一種 書上有說明
RS=10*R   時(shí),頻率約為 F=1/2.2RC ,  做到片子內(nèi)部,可就要求很嚴(yán)格,達(dá)到2%的精度 我看夠戧啊!   
你自己在分析,仿真一下吧.   

8樓: >>參與討論
huahl
一起學(xué)習(xí)
我一直都是用圖1的,圖二沒試過,不過圖2里電阻在那里,是不是RC振蕩?
還請高人解釋。同學(xué)習(xí)!

9樓: >>參與討論
王子風(fēng)
環(huán)型振蕩
圖二個(gè)人覺得應(yīng)該是環(huán)型振蕩,奇數(shù)個(gè)非門,利用非門的延遲產(chǎn)生振蕩,我有做個(gè)這樣的振蕩,不過沒有那些電容。

10樓: >>參與討論
王子風(fēng)
精度問題
另外2%的精度很難做到,每次流片工藝都會(huì)漂的

11樓: >>參與討論
niezimei
多諧振蕩器
  用遲滯比較器和電容的充放電組成,10%的誤差還差不多。

12樓: >>參與討論
entertest
再給點(diǎn)參數(shù)性能
供電電壓范圍是2-5v,功耗要低于1uA。在整個(gè)電壓范圍精度可以適當(dāng)放寬到+—5%,我用第一種電路可以達(dá)到精度要求,但是功耗就遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過1uA了,調(diào)了這么久,感覺沒招了,請大蝦們支招。

13樓: >>參與討論
entertest
jixu
我用比較器結(jié)構(gòu)的電路也仿了一下,功耗可以滿足要求,但是精度又下去了,只能到+—10%。

14樓: >>參與討論
boris
±5%的精度好像不太可能
除非做校準(zhǔn),一般CMOS工藝中電阻值和電容值都有±10%以上的偏差(具體數(shù)據(jù)以所用工藝的PCM參數(shù)為準(zhǔn))。RC振蕩器的頻率與電阻值和電容值都強(qiáng)相關(guān),很難滿足±5%的要求。
當(dāng)然,如果不考慮犧牲良率的代價(jià),電阻值和電容值的偏差會(huì)小一些。

15樓: >>參與討論
entertest
聽說TI做出來了
可惜不知道他們是怎么做出來的

16樓: >>參與討論
entertest
咨詢
有沒有關(guān)于這方面的網(wǎng)站或bbs?

17樓: >>參與討論
zhang_2000
聽說大的公司 在中測的時(shí)候,
聽說國外大的公司 在中測的時(shí)候,可以用注入的方法來修正電容     一邊測試一邊修正  
TI做出來,可能是這種方法 

18樓: >>參與討論
bbady
沒戲。。。!
 
19樓: >>參與討論
entertest
謝謝
   謝謝上面各位提出的建議。我和老板商量了一下,現(xiàn)在除了功耗必須少于1uA,其他的性能參數(shù)可以適當(dāng)放寬,比如精度。還有就是精度的測量是在整個(gè)電壓范圍和溫度范圍。
   我現(xiàn)在的想法是用CMOS亞閾特性來做一個(gè)帶隙,這樣就可以控制溫度范圍和電壓范圍的精度,同時(shí)又保證合理的功耗,不知道可不可行。
   繼續(xù)等待大家的幫助中..........

20樓: >>參與討論
lylnk
很困難
如果使用LOGIC工藝,電阻變化+/-20%,電容大概+/-10%。

光是電阻變化就可以使頻率變化達(dá)到+/-20%。

加修調(diào)可能加很大面積,大概幾個(gè)PAD的面積。

21樓: >>參與討論
王子風(fēng)
比較器結(jié)構(gòu)
不知道樓主說的比較器結(jié)構(gòu)是什么樣的,能不能貼個(gè)圖給小弟學(xué)習(xí)一下?

22樓: >>參與討論
cloudjob99
幾乎是不可能的
因?yàn)閞c的精度在普通的CMOS工藝中有大于20%的誤差。
還沒有看到那家公司有什么好辦法。

23樓: >>參與討論
entertest
謝謝lylnk
如果絕對頻率允許浮動(dòng),相對頻率維持正負(fù)10%,不知道這個(gè)性能容不容易達(dá)到?還有就是多晶硅電容大小和電壓的大小關(guān)系應(yīng)該沒有你說的這么大吧

24樓: >>參與討論
extraord
Cap +/-4%
可以接外接電阻,做一個(gè)橫流源,否則4%都做不到,20%差不多可能

25樓: >>參與討論
entertest
to  王子風(fēng)
比較器的結(jié)構(gòu)和用555構(gòu)成的振蕩電路原理相同,就是對電容充電,充到比較器的一個(gè)閾值電壓,比較器輸出結(jié)果翻轉(zhuǎn)。電容放電,放到另外一個(gè)閾值電壓,比較器輸出結(jié)果再翻轉(zhuǎn)。如此循環(huán)而已。

26樓: >>參與討論
look&think
這個(gè),基本上,比較難
我作過這樣的電路,能作到+/-10%以內(nèi)就很不容易了,還要低功耗,實(shí)在太難,除非允許初測時(shí)修正電阻等。

27樓: >>參與討論
entertest
hehe
老板說可以修調(diào)電阻

28樓: >>參與討論
hover99
我們公司有的
目前我們設(shè)計(jì)的產(chǎn)品都是基于RC-oscillator的,公司的一個(gè)專利,誤差可以控制在6%以內(nèi)。不過功耗面積都滿大的。

29樓: >>參與討論
microe
SILICON oscillator
有一種產(chǎn)品叫SILICON oscillator, MAXIM, LINEAR 都有產(chǎn)品,
剖開片子看看,也許有幫助


30樓: >>參與討論
larkzer
算是低頻的振蕩器
低頻的 用反相器-比較困難吧

可以找一些這方面的論文看,也許有啟發(fā)。

可以采用比較器延時(shí)和RC延時(shí)結(jié)合 控制頻率 試試 T=2.2(Tcom+Trc),從而減小RC精度對頻率的影響

31樓: >>參與討論
jackichen
我曾經(jīng)做出來過這種振蕩器
我當(dāng)年在MAXIM工作時(shí)做出來了一個(gè)高精度CMOS振蕩器系列產(chǎn)品。經(jīng)激光修調(diào)后可達(dá)到+/-0.5%的精度(-40~125oC有50ppm)。我采用了馳張式和環(huán)形結(jié)構(gòu)兩種。有興趣的可查一下近兩年的美國專利。根據(jù)回國后工作的經(jīng)驗(yàn),在只有燒鋁修正的條件下,達(dá)到+/-1.5%的精度還是可以的。國內(nèi)現(xiàn)有的CMOS工藝中,如果不進(jìn)行溫度曲率的糾正,達(dá)到100PPM(-40~125oC)zai

32樓: >>參與討論
bearpp
夠嗆
不修的話,10%以內(nèi)就算不錯(cuò)了吧,除非有什么特殊的架構(gòu)或者工藝處理。


我覺得RC oscillator這塊可以開個(gè)專題討論討論阿

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