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存貯器數(shù)據(jù)校驗(yàn)怎么做？ |
| 作者：chen_sf 欄目：測控之家 |
發(fā)現(xiàn)在以往生產(chǎn)的一些產(chǎn)品中，E2PROM（極少）中的數(shù)據(jù)會無故丟失，查程序，沒有錯，所以我想，產(chǎn)品中固定參數(shù)的貯存，應(yīng)該在貯存前，生成一個校驗(yàn)數(shù)據(jù)，存在另一空間，每次開機(jī)讀參數(shù)時(shí)，要進(jìn)行校驗(yàn)，并與前面校驗(yàn)數(shù)據(jù)比較，相同就說明E2PROM中數(shù)據(jù)讀出正確。但我想奇偶校驗(yàn)、累加校驗(yàn)是不是有點(diǎn)簡單，不知道各位用什么方法，簡潔又對單片機(jī)實(shí)用，程序不要太長，請介紹一下 |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： a12345678 于 2006/5/26 23:14:00 發(fā)布：
只要單片機(jī)不出錯就沒問題 |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： sayasa 于 2006/5/30 8:53:00 發(fā)布：
CRC8/CRC16校驗(yàn) |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： chen_sf 于 2006/5/30 13:25:00 發(fā)布：
CRC8/CRC16校驗(yàn)有詳細(xì)介紹嗎？ |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/5/30 14:36:00 發(fā)布：
應(yīng)該說是沒問題,問題的出現(xiàn)可能在于操作不正確 如果需要檢驗(yàn),可讀出在進(jìn)行比較.這樣時(shí)間稍微長一點(diǎn). |
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| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： 張定華 于 2006/6/5 10:07:00 發(fā)布：
具體可參考我在電路欣賞攔中的一篇文章，講的比較好。 《EEPROM在數(shù)據(jù)傳輸速度和讀寫次數(shù)和數(shù)據(jù)掉包方面的缺陷如何避免和改進(jìn)》 中有關(guān)于EEPROM的數(shù)據(jù)掉包是怎么產(chǎn)生的，你就知道怎么做了，軟件讀5寫3或者讀3寫2等。 |
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| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： chen_sf 于 2006/6/8 12:16:00 發(fā)布：
to張定華:我只希望改軟件，不動硬件 |
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| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： myymichael 于 2006/6/9 8:32:00 發(fā)布：
to 張定華 你的文章我沒搜到.能給個聯(lián)結(jié)嗎? |
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