|
|||||||||||
| 技術(shù)交流 | 電路欣賞 | 工控天地 | 數(shù)字廣電 | 通信技術(shù) | 電源技術(shù) | 測控之家 | EMC技術(shù) | ARM技術(shù) | EDA技術(shù) | PCB技術(shù) | 嵌入式系統(tǒng) 驅(qū)動編程 | 集成電路 | 器件替換 | 模擬技術(shù) | 新手園地 | 單 片 機(jī) | DSP技術(shù) | MCU技術(shù) | IC 設(shè)計(jì) | IC 產(chǎn)業(yè) | CAN-bus/DeviceNe |
平面度非接觸檢測的方法 |
| 作者：leinuo 欄目：測控之家 |
請問哪位有關(guān)于測量金屬工件（直徑400mm）的平面度檢測方法，精度在10um即可。 當(dāng)然，采用激光干涉法可以做，但是成本，檢測速度等。。。可能不理想，采用雙頻激光傳感器，不知道是否也是同樣的問題，有人采用檢測直線度間接測量，不知道詳細(xì)的算法原理，另外，這種需要進(jìn)行傳感器的運(yùn)動才可以。。。不知道是否可以采用ccd原理測量？有人說，可以，我卻不知道具體實(shí)現(xiàn)的過程。。。希望交流。 * - 本貼最后修改時(shí)間：2006-5-31 17:30:34 修改者：leinuo |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/1 14:01:00 發(fā)布：
納悶一個(gè)事情 就是，有人說，用ccd拍照后獲取數(shù)據(jù)后，可以分析平面度，不知道道理何在，怎么個(gè)處理策略？有無成功案例？。。。 |
|
| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/8 19:44:00 發(fā)布：
zijidingyixia |
|
| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： zmlab.com 于 2006/6/9 7:38:00 發(fā)布：
如果反射率夠高的話... 投一幅標(biāo)準(zhǔn)圖象上去，拍下其反射，然后分析，不知行不行？光學(xué)部分可能要求比較精確。只是提點(diǎn)思路，沒有這方面的經(jīng)驗(yàn)。 |
|
| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/9 8:03:00 發(fā)布：
xiexie 首先謝謝參與這個(gè)問題的討論。您說的可能是基于CCD的拍照后數(shù)據(jù)處理的放案。我也正在納悶這里面確切的解決方法。。。。 |
|
| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/10 1:02:00 發(fā)布：
是否可以使用光的干涉原理 |
|
| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/12 11:26:00 發(fā)布：
可以 理論上看，這個(gè)干涉原理用來測量直線度的。從而達(dá)到測量平面度的目的 |
|
| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/15 10:02:00 發(fā)布：
看來這個(gè)問題，需要進(jìn)一步思索 |
|
| 9樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/16 2:55:00 發(fā)布：
采用光譜分析儀的原理 光源--光學(xué)三角棱鏡--狹縫--工件--狹縫--CCD。如果光路過長，使用光電倍增管 |
|
| 10樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/17 0:32:00 發(fā)布：
看來樓主閃了 |
|
| 11樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/17 22:00:00 發(fā)布：
樓上的兄弟 看過。你的這個(gè)狹縫-ccd。。。。應(yīng)該你通過此來測量某參量的直線度吧。這樣測量平面度，需要掃描若干線，然后根據(jù)機(jī)械公差平面度測量檢驗(yàn)規(guī)范中需要的取值方法來計(jì)算嗎？ |
|
| 12樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/17 22:51:00 發(fā)布：
基本是這么意思 將平面問題轉(zhuǎn)換成線性的問題,當(dāng)平面發(fā)生變化時(shí),光線也會產(chǎn)生扭曲.當(dāng)然照射在CCD上就會產(chǎn)生非線性的變化.再通過掃描電路--放大電路--AD(也可能使用比較器),最后傳至CPU上 |
|
| 13樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/19 17:31:00 發(fā)布：
感謝樓上的參與 你提出的問題，好。但是平面度問題，就是平面不規(guī)則翹曲，需要jinxing 面的直線度測量才能獲得準(zhǔn)全的數(shù)據(jù)。zheyang的話，掃描速度，是很難滿足現(xiàn)場在線監(jiān)測的。 |
|
| 14樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/20 4:22:00 發(fā)布：
是的象400的長度應(yīng)該在30s檢測出來 |
|
| 15樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/20 20:26:00 發(fā)布：
我現(xiàn)在特別關(guān)心 有沒有直接通過ccd拍照的原理，然后分析所謂的數(shù)據(jù)，能得出平面度的結(jié)果了。精度不高的情況。主要是目前沒有成型的產(chǎn)品在我眼前�；蛘叽蠹艺l能知道哪個(gè)公司有類似原理的測量產(chǎn)品？ |
|
| 16樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/21 9:23:00 發(fā)布：
有一種新式的"光電位置傳感器"PSD,你可參照一下 測量精度可達(dá)0.2uM |
|
| 17樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/21 22:02:00 發(fā)布：
lou 樓上說的這種，是用來測量距離位移的，就是說測量一個(gè)點(diǎn)距離參考點(diǎn)的距離，一般用來測量表面粗糙度，用它來測量需要，x，y2方向多重掃描，速度甚慢。 你說的這種傳感器比較多，sick公司od系列，德國米依，日本歐姆龍，松下電工，還有美國邦德，均有類似psd原理的產(chǎn)品。這個(gè)的精度比較不錯(cuò)。主要是我想解決的矛盾就是能快速測量的方案。并且精度不是很高。 |
|
| 18樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/21 22:11:00 發(fā)布：
快速測試,如果用光學(xué)原理,平行光源是很重要的 |
|
| 19樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/22 20:27:00 發(fā)布：
希望能引伸討論。 首先據(jù)我目前了解，還沒有快速的，拍照式的數(shù)據(jù)分析就能獲得平面度的算法。 因?yàn)槟壳皬钠矫娑鹊膰覚z驗(yàn)規(guī)程上看，也是指定區(qū)域內(nèi)指定的測量位域內(nèi)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)。從測量過程來看，就是測量直線度來彌合平面度的數(shù)據(jù)�，F(xiàn)在看來，用非接觸的光學(xué)測量，都是用干涉法來得到直線度的數(shù)據(jù)和圖像，還是比較羅嗦。 |
|
| 20樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/22 20:30:00 發(fā)布：
再一次 對conwh積極參與和熱心討論表示敬意。 |
|
| 21樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/22 22:40:00 發(fā)布：
沒關(guān)系,我對光學(xué)的測量也十分感興趣 曾經(jīng)搞過機(jī)電式的光譜分析儀和固定式(CCD)光譜分析儀,對那時(shí)的研究還是很懷念的 |
|
| 22樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/23 8:00:00 發(fā)布：
o 你做過ccd光譜分析儀，應(yīng)該對這個(gè)東西比較了解。通過ccd獲取光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的光譜照片，進(jìn)行二次處理，應(yīng)該專業(yè)性比較強(qiáng)。你說的平行光源的重要性和測量的快速看來的確有關(guān)聯(lián)。但是實(shí)際運(yùn)行起來，不知道怎么去操控這些模塊。希望能有進(jìn)一步的引導(dǎo)。謝謝。 |
|
| 23樓： | >>參與討論 |
| 作者： conwh 于 2006/6/23 11:59:00 發(fā)布：
就如同前面所述一樣,使用掃描電路將信號引出 經(jīng)過放大-->AD-->計(jì)算機(jī),剩下的就是計(jì)算和分析.我用的線性CCD1024點(diǎn),具體型號都忘記了,已經(jīng)10多年了. |
|
| 24樓： | >>參與討論 |
| 作者： leinuo 于 2006/6/30 17:08:00 發(fā)布：
不知道用激光全息的分析方法可行否？ |
|
|
|
| 免費(fèi)注冊為維庫電子開發(fā)網(wǎng)會員，參與電子工程師社區(qū)討論，點(diǎn)此進(jìn)入 |
Copyright © 1998-2006 m.58mhw.cn 浙ICP證030469號 |