|
|||||||||||
| 技術(shù)交流 | 電路欣賞 | 工控天地 | 數(shù)字廣電 | 通信技術(shù) | 電源技術(shù) | 測控之家 | EMC技術(shù) | ARM技術(shù) | EDA技術(shù) | PCB技術(shù) | 嵌入式系統(tǒng) 驅(qū)動編程 | 集成電路 | 器件替換 | 模擬技術(shù) | 新手園地 | 單 片 機(jī) | DSP技術(shù) | MCU技術(shù) | IC 設(shè)計 | IC 產(chǎn)業(yè) | CAN-bus/DeviceNe |
簡單的與非門,令人郁悶的問題 |
| 作者:zab 欄目:技術(shù)交流 |
用法如圖。該電路所在電路板板裝在儀器內(nèi)部,HC00的1腳和2腳通過約15cm的線接到儀器殼上的db9插座上。 儀器在真空環(huán)境下作試驗,接到db9插座上的兩根線懸空。試驗中HC00電流突然增大到100多mA(正常時不到2mA),3腳輸出變?yōu)?.2v左右。 將HC00從板子上取下,用完用表測量電源腳和地腳間的阻抗為300多歐姆。 不知是什么原因?qū)е?a target="_blank" href="http://m.58mhw.cn/icstock/295/HC00.html">HC00電流增大?老板說可能是有異常信號用過接到db9插座上的兩根線耦合到了HC00的輸入端,導(dǎo)致HC00電流增大。
|
| 2樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/15 13:13:00 發(fā)布:
會不會是R1和R2太大? |
|
| 3樓: | >>參與討論 |
| 作者: computer00 于 2006/2/15 13:33:00 發(fā)布:
在輸入管腳上串聯(lián)1K的電阻,看能不能解決問題。 如果輸入信號頻率比較低,可考慮1、2腳對地接小電容。 |
|
| 4樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/15 15:15:00 發(fā)布:
現(xiàn)在也只是懷疑是引出線上串入異常信號 不知是否還有其它原因引起這樣的現(xiàn)象(電流增大)。 |
|
| 5樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/15 15:39:00 發(fā)布:
是不是HC00的輸入端內(nèi)部有保護(hù)二極管? |
|
| 6樓: | >>參與討論 |
| 作者: liudewei 于 2006/2/15 15:49:00 發(fā)布:
測量電源腳和地腳間的阻抗為300多歐姆,不用說已經(jīng)掛了 兩個原因:1、輸入信號超出IC承受范圍,芯片擊穿。 2、輸出信號被強(qiáng)制拉地或拉高,芯片有可能壞。 |
|
| 7樓: | >>參與討論 |
| 作者: maoqichun 于 2006/2/15 16:21:00 發(fā)布:
為什么要在真空中試驗,真空絕緣嗎? |
|
| 8樓: | >>參與討論 |
| 作者: tjung 于 2006/2/15 17:00:00 發(fā)布:
好象是靜電擊穿 我認(rèn)為是機(jī)器的外客(或系統(tǒng)的)接地有問題。在真空環(huán)境下,靜電無法釋放。使系統(tǒng)處于在一個高電壓的靜電環(huán)境中。一旦信號端、電源、地之間的電位差大于其耐壓范圍,就引起芯片的損壞。不知道對不對,供參考。 |
|
| 9樓: | >>參與討論 |
| 作者: chunyang 于 2006/2/15 17:38:00 發(fā)布:
應(yīng)該是測量環(huán)境將高壓引入至IC導(dǎo)致其損壞的 樓上的分析有理,可以考慮在輸入輸出端均用肖特基二極管對電源和地進(jìn)行鉗位,應(yīng)該立桿見影的解決問題。 |
|
| 10樓: | >>參與討論 |
| 作者: iC921 于 2006/2/15 19:38:00 發(fā)布:
如果斷電后就能恢復(fù)“正!保瑒t可能是發(fā)生了閂鎖效應(yīng) |
|
| 11樓: | >>參與討論 |
| 作者: guorock 于 2006/2/15 20:28:00 發(fā)布:
期待樓主的實驗結(jié)果! |
|
| 12樓: | >>參與討論 |
| 作者: computer00 于 2006/2/15 21:01:00 發(fā)布:
可能會因為“閂鎖”而導(dǎo)致芯片永久損壞。 |
|
| 13樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/16 8:43:00 發(fā)布:
該儀器就是要在真空下工作 但真空是不是罪魁禍?zhǔn)啄兀?br>也就是說,如果不在真空下試驗的話,是不是就不會發(fā)生這種情況呢? |
|
| 14樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/16 8:44:00 發(fā)布:
悲慘消息:另一臺同樣的儀器在真空下發(fā)生了相同的情況 |
|
| 15樓: | >>參與討論 |
| 作者: chunyang 于 2006/2/16 9:17:00 發(fā)布:
防ESD和閂扣,加鉗位均可解決。 |
|
| 16樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/16 10:16:00 發(fā)布:
想采用如下電路,請各位指點(diǎn)是否可行 圖中D1和D2是5.7v穩(wěn)壓管
|
|
| 17樓: | >>參與討論 |
| 作者: computer00 于 2006/2/16 10:36:00 發(fā)布:
一般使用兩個肖特基二極管,分別到電源和地進(jìn)行箝位 使用5.7V的穩(wěn)壓管,恐怕效果不大。 |
|
| 18樓: | >>參與討論 |
| 作者: 將軍令 于 2006/2/16 12:58:00 發(fā)布:
這是因為輸入端口沒有ESD保護(hù) |
|
| 19樓: | >>參與討論 |
| 作者: maoqichun 于 2006/2/16 13:02:00 發(fā)布:
你的真空罩是導(dǎo)體嗎?若是就接地. 真空可以導(dǎo)電的,并不是TJUNG所說的"在真空環(huán)境下,靜電無法釋放。" 陰極射線管就是一個例子. |
|
| 20樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/17 7:48:00 發(fā)布:
我的儀器整個放在真空罐里 儀器內(nèi)部的電源地接到了機(jī)殼上。 |
|
| 21樓: | >>參與討論 |
| 作者: 赤鑄 于 2006/2/17 8:45:00 發(fā)布:
不要使用穩(wěn)壓管 一、I-V特性不理想 二、結(jié)電容大,影響信號跳沿(對于高速信號) |
|
| 22樓: | >>參與討論 |
| 作者: chunyang 于 2006/2/17 9:53:00 發(fā)布:
每個輸入端要用兩個肖特基二極管分別對電源和地進(jìn)行鉗位 已經(jīng)告訴你訣竅了,還這么執(zhí)迷不悟?! |
|
| 23樓: | >>參與討論 |
| 作者: maoqichun 于 2006/2/17 10:39:00 發(fā)布:
建議在真空罐內(nèi)壁貼上鋁箔并與板的地連通 上圖的D1,D2,C1,C2沒有必要,有R1,R2足矣. |
|
| 24樓: | >>參與討論 |
| 作者: 金色雨水 于 2006/2/17 10:59:00 發(fā)布:
只要將上拉電阻改為1K-2K就可以 15CM的線可是當(dāng)天線用,看接口類型是否采取ESD保護(hù)。 |
|
| 25樓: | >>參與討論 |
| 作者: h218 于 2006/2/17 12:00:00 發(fā)布:
是在抽真空的過程中壞的? 外部插頭什么時候連? |
|
| 26樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/17 13:48:00 發(fā)布:
在整個試驗過程中,外部插頭始終沒有接 |
|
| 27樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/17 13:50:00 發(fā)布:
to 金色雨水 上拉電阻減小就可以了,為什么呢? |
|
| 28樓: | >>參與討論 |
| 作者: 金色雨水 于 2006/2/17 15:15:00 發(fā)布:
強(qiáng)上拉電路能有效提高干擾對門電路作用的閥值 常見于IO輸入部分 |
|
| 29樓: | >>參與討論 |
| 作者: hui7744 于 2006/2/17 15:33:00 發(fā)布:
經(jīng)典! 這句話,太經(jīng)典了!收藏! * - 本貼最后修改時間:2006-2-17 15:35:57 修改者:hui7744 |
|
| 30樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/21 7:57:00 發(fā)布:
對芯片進(jìn)行了失效分析,結(jié)果如下: 可能是電路電源端引入瞬態(tài)高壓,導(dǎo)致電源端和地?fù)舸⒏髋c非門輸出端與地?fù)舸,形成短路?br> 也就是說判斷為芯片的電源端引入了干擾,而不是輸入端啊。 |
|
| 31樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/23 7:28:00 發(fā)布:
失效分析的具體結(jié)論: 實體顯微鏡:電路內(nèi)部引線及芯片燒結(jié)狀態(tài)均未見明顯異常。 全相顯微鏡:芯片表面無明顯過壓擊穿、過流燒毀痕跡,亦未發(fā)現(xiàn)明顯工藝缺陷存在。 失效原因可能是:電路電源端引入瞬態(tài)高壓,導(dǎo)致電源端和地?fù)舸、各與非門輸出端與地?fù)舸,形成短路?br> |
|
| 32樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/23 7:29:00 發(fā)布:
如果是電源端引入瞬態(tài)高壓 為什么芯片內(nèi)部沒有什么燒毀痕跡呢? |
|
| 33樓: | >>參與討論 |
| 作者: XUMAX 于 2006/2/23 15:22:00 發(fā)布:
D |
|
| 34樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/2/24 17:12:00 發(fā)布:
哪位遇到過類似的問題?急! |
|
| 35樓: | >>參與討論 |
| 作者: HIGHWAY 于 2006/2/24 19:58:00 發(fā)布:
建議,整個5V的電源+TVS保護(hù) 然后輸入使用開關(guān)二極管進(jìn)行保護(hù),如每IO分別使用2只1N4148到電源和地 另外,將電源地經(jīng)過高壓電容接大地,如2KV103 54HC00還可經(jīng)過電阻再接電源 |
|
| 36樓: | >>參與討論 |
| 作者: zab 于 2006/3/12 17:22:00 發(fā)布:
問題解決 HC00通過一個穩(wěn)壓管再串一個1k的電阻再連接到5v |
|
|
|
| 免費(fèi)注冊為維庫電子開發(fā)網(wǎng)會員,參與電子工程師社區(qū)討論,點(diǎn)此進(jìn)入 |
Copyright © 1998-2006 m.58mhw.cn 浙ICP證030469號 |