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關(guān)于三星FLASH！！ |
| 作者：yjsmcu 欄目：技術(shù)交流 |
我采用的三星的F9F1208和K9F5608 ，在實(shí)驗(yàn)當(dāng)中發(fā)現(xiàn)有很多都出現(xiàn)多處壞塊（一塊32頁），K9F5608好點(diǎn)，情況沒那么嚴(yán)重。由于CPU速度的限制，我只能對(duì)壞塊事先做隔離處理�，F(xiàn)想請(qǐng)教各位大俠，FLASH在使用過程中產(chǎn)生壞塊及壞比特位的幾率有多大？？？ |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： taoest 于 2005/4/4 17:37:00 發(fā)布：
nand FLASH.html">FLASH本身的問題 nand FLASH.html">FLASH本身的問題，NAND FLASH都有比較短的壽命，如果用來做運(yùn)行數(shù)據(jù)的保存的話，必須注意壞塊的問題。NAND FLASH出現(xiàn)壞塊是經(jīng)常的事，也不被歸類為產(chǎn)品質(zhì)量問題（壞塊比例不高的情況）。 所以，在一般用NAND FLASH做可擦寫數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的場合，需要用到磨平算法和備用區(qū)替換。 磨平就是避免往同一個(gè)區(qū)域重復(fù)寫東西。將寫操作分散到其他地方。 備用就是用備用區(qū)來替換壞區(qū)。 |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： yjsmcu 于 2005/4/4 23:30:00 發(fā)布：
謝謝�。。�！ |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： puppyh 于 2005/4/5 9:41:00 發(fā)布：
平均每1024個(gè)塊中有多少個(gè)壞塊？ 如果超過24個(gè)，那說明你的程序有問題，據(jù)說nand FLASH出廠時(shí)會(huì)進(jìn)行檢測，一般超過10～16個(gè)好象就不會(huì)出廠的。 |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： 鄭捷 于 2005/6/20 22:05:00 發(fā)布：
5608 最少有2013個(gè)可用BLOCK |
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