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請問:有誰測過MCU的復(fù)位時(shí)間?~~ |
| 作者:最愛韶涵 欄目:單片機(jī) |
如題。 我將復(fù)位時(shí)間定義為: 系統(tǒng)上電到MCU執(zhí)行第一條指令的時(shí)間。 有誰測過這個(gè)時(shí)間啊? 可以給個(gè)方法和大概的數(shù)據(jù)(ms級?)嗎?~~ thx~~ |
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| 作者: taoest 于 2005/5/31 22:40:00 發(fā)布:
DATASHEET上有 DATASHEET上有,而且主要由你的復(fù)位電路決定。各種芯片也不同。 一般從幾十毫秒到幾百毫秒不等 |
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| 3樓: | >>參與討論 |
| 作者: 最愛韶涵 于 2005/5/31 23:06:00 發(fā)布:
我是想測那個(gè)時(shí)間,而不是查那個(gè)時(shí)間~~ 樓上的,先thx。 不過,我是想測那個(gè)時(shí)間,而不是查那個(gè)時(shí)間~~ |
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| 4樓: | >>參與討論 |
| 作者: 后學(xué) 于 2005/6/1 8:30:00 發(fā)布:
用示波器量啊,多測幾次求平均 |
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| 5樓: | >>參與討論 |
| 作者: 最愛韶涵 于 2005/6/1 17:46:00 發(fā)布:
現(xiàn)在的問題是要將測n個(gè)PCB板(n>10k),把復(fù)位時(shí)間太長的挑出來 如果用示波器做的話,怎行得通? |
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| 6樓: | >>參與討論 |
| 作者: 后學(xué) 于 2005/6/2 7:56:00 發(fā)布:
每個(gè)板子會差別很大嗎? |
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| 7樓: | >>參與討論 |
| 作者: smartbird 于 2005/6/2 8:11:00 發(fā)布:
無解 不想用示波器測?答案就是無解 |
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| 8樓: | >>參與討論 |
| 作者: 最愛韶涵 于 2005/6/2 20:27:00 發(fā)布:
不可能吧。我的方法是: 用另外一個(gè)MCU(記作測試MCU),如PIC系列. 1、用一個(gè)繼電器控制被測MCU與電源的連接,繼電器輸出端的一端接電源+5V,另一端接被測MCU的Vdd。 2、選擇測試MCU的一個(gè)I/O(如PORTC1),接被測MCU的Vdd。 3、選擇測試MCU的一個(gè)I/O(如PORTC2),接被測MCU復(fù)位后第一條指令作用的I/O(如果HT49R30的PA1) 從PORTC1出現(xiàn)高電平時(shí),開始計(jì)時(shí), 到PORTC2出現(xiàn)高電平時(shí),停止計(jì)時(shí)。 這段時(shí)間就是復(fù)位時(shí)間~~~~ 我好可憐,為了測一個(gè)只有定時(shí)開機(jī)功能的MCU系統(tǒng), 居然要用到如下的MCU功能: 1、測量各測試點(diǎn)在各個(gè)狀態(tài)下的Vdd,各個(gè)不同的狀態(tài)通過測試MCU來控制。 2、測量電源板Vdd的建立時(shí)間及MCU的復(fù)位時(shí)間。 3、測量MCU晶振的頻率 4、自動控制MCU的按鍵功能 5、測量結(jié)果用LCM顯示 第二點(diǎn)我是郁悶了好久都做不出來~~~~ 大家救救我~~~ |
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| 9樓: | >>參與討論 |
| 作者: 陳雙君 于 2005/6/2 21:01:00 發(fā)布:
20MS |
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| 10樓: | >>參與討論 |
| 作者: 最愛韶涵 于 2005/6/3 17:29:00 發(fā)布:
樓上的說得太絕對了,MCU的復(fù)位時(shí)間與復(fù)位電路有 |
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| 11樓: | >>參與討論 |
| 作者: f6906 于 2005/6/3 18:21:00 發(fā)布:
注意加5V電源到MCU的VDD有穩(wěn)定的5V的時(shí)間。 可以測量加電到MCU的復(fù)位引腳有下降沿(高電平復(fù)位)或上升沿(低電平復(fù)位)的時(shí)間 |
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| 12樓: | >>參與討論 |
| 作者: 阿土伯 于 2005/6/4 0:24:00 發(fā)布:
MS級 比較多 慢可以加大RC值增加復(fù)位時(shí)間 想快一點(diǎn)就難了 現(xiàn)在小與1MS復(fù)位的單片機(jī)好象很少 |
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| 13樓: | >>參與討論 |
| 作者: 最愛韶涵 于 2005/6/4 17:38:00 發(fā)布:
是個(gè)好方法,不過加電的定義比較難哦~~ |
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