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EasyJTAG的功能問題！ |
| 作者：mdwhit603 欄目：ARM技術(shù) |
既然EasyJTAG的功能有限制，可不可以加以說明呢？即有哪些限制？ 最近發(fā)現(xiàn)設(shè)置斷點數(shù)有限制！ |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： openair 于 2005/5/13 23:42:00 發(fā)布：
斷點少是ARM7 CORE決定的，這個確實沒有辦法 |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： andrewpei 于 2005/5/14 12:01:00 發(fā)布：
一點補充！ 斷點少應(yīng)該視情況來說： ARM7內(nèi)核中內(nèi)嵌的調(diào)試模塊只支持FLASH或ROM中有兩個斷點，通常稱為硬斷點；但是如果用Muilti-ICE或與其完全兼容的調(diào)試工具,并將程序下載到RAM中調(diào)試的話,斷點數(shù)是沒有限制的。這種一般稱軟斷點。 周工的EasyJTAG只是個比較簡易的開發(fā)工具，與Multi-ICE的功能差得較多，所以即使將程序下載到RAM中調(diào)試，也只支持兩個軟斷點。 |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： 12864 于 2005/5/14 20:38:00 發(fā)布：
請教andrewpei：RAM調(diào)試的RAM指哪里的RAM？ 是ARM芯片內(nèi)部RAM還是仿真器內(nèi)部的？如果是ARM內(nèi)部的，似乎空間很小啊 |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： hujiahua 于 2005/5/15 22:16:00 發(fā)布：
我認為JTAG是調(diào)試器,不是仿真器 JTAG調(diào)試器內(nèi)部沒有可供用戶使用的RAM, 所以這里的所說的RAM應(yīng)該是指目標板上的RAM. |
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