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如何正確可靠地對(duì)mCU系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,歡迎各位發(fā)表自己的方法.. |
| 作者：zlg900 欄目：MCU技術(shù) |
* - 本貼最后修改時(shí)間：2005-4-13 15:46:22 修改者：zlg900 |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： ztb 于 2005/4/13 16:17:00 發(fā)布：
我建議把這個(gè)問(wèn)題分解一下 斑竹的問(wèn)題太籠統(tǒng)，您的題目是針對(duì)系統(tǒng)的，就好比是“如何才能考上大學(xué)”。我建議把這個(gè)問(wèn)題分解一下，如: 1�？煽啃詼y(cè)試，包括電磁兼容和抗干擾等問(wèn)題。 2。實(shí)用性測(cè)試，包括易用性，就是操作方便容易被用戶接受。 3。準(zhǔn)確性測(cè)試，如儀表的測(cè)量精度，抵御工作溫度變化的范圍和適應(yīng)的電源范圍和種類(lèi)。 4。安全性測(cè)試，保證系統(tǒng)在可以預(yù)見(jiàn)的任何情況都不會(huì)造成人身傷害和安全隱患。 5。先進(jìn)性評(píng)價(jià)，也包括產(chǎn)品的生命周期的長(zhǎng)短。 6。性能價(jià)格比，這可是進(jìn)入市場(chǎng)的關(guān)鍵。 也許是斑竹鍵誤把題目的句子寫(xiě)顛倒了，本來(lái)就是針對(duì)可靠性的測(cè)試。就算我瞎吵吵了。 * - 本貼最后修改時(shí)間：2005-4-13 16:18:49 修改者：ztb |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： fineasy 于 2005/4/15 22:13:00 發(fā)布：
一言難盡！可以成為一門(mén)職業(yè)。 |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： 有風(fēng) 于 2005/4/24 0:46:00 發(fā)布：
呵呵，我現(xiàn)在正要做這工作�。� 主要測(cè)試內(nèi)容為， 測(cè)試MCU供電電壓的上升時(shí)間以及帶不同的負(fù)載的不同情況，測(cè)試MCU輸出IO的穩(wěn)定性，測(cè)試晶振的頻率及MCU復(fù)位時(shí)間…… |
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