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請教關(guān)于IC生產(chǎn)yield的計(jì)算 |
| 作者：cross 欄目：集成電路 |
請教一下在foundry工作的兄弟，如果知道Defect Density和N-Factor，印象里是有兩種方法（或說兩個(gè)公式）可以算出生產(chǎn)的yield，請問如何yield如何計(jì)算？多謝 |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： boris 于 2005/3/24 16:30:00 發(fā)布：
好像是下面兩個(gè)公式 手頭有個(gè)記錄，忘了是從哪抄來的，希望沒抄錯(cuò)（A為die size）： Y=exp(-eqrt(A*D)) Y=0.95/(1+(A*D)^N) |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： cross 于 2005/3/25 17:46:00 發(fā)布：
多謝 Boris 不過不知道公式里面DD和A的單位是什么？ 我先找些數(shù)據(jù)帶進(jìn)去試試。 |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： ProtossAC 于 2005/3/28 15:29:00 發(fā)布：
... 每個(gè)Foundary廠給的公式可能有出入！ |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： lqnaess 于 2005/3/30 21:13:00 發(fā)布：
請幫我 我想加入"產(chǎn)業(yè)論壇"怎么加入呢..有那們朋友知道呢.告訴我好嗎謝謝//加我 QQ358498458.謝謝了 |
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