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請(qǐng)高手提供IC的測(cè)試賞 |
| 作者：swzxb 欄目：集成電路 |
我司自己的料中，有一批因?yàn)橘I錯(cuò)料從板上拆下來，但不知其中那部分是好的，請(qǐng)有做測(cè)試業(yè)務(wù)的，聯(lián)系我們。。 請(qǐng)高手知道有這方面信息的提供一下，謝謝！ 聯(lián)系方式： swzxb@21cn.com |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： iraq 于 2005/1/24 12:24:00 發(fā)布：
have different MARKING code |
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| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： swzxb 于 2005/1/24 13:17:00 發(fā)布：
不同的型號(hào)不用的批號(hào)的測(cè)試方法是不同的是嗎？ |
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| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： fbj99 于 2005/1/27 9:40:00 發(fā)布：
能否提供電路型號(hào) |
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| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： fbj99 于 2005/1/27 9:41:00 發(fā)布：
能否提供電路型號(hào) |
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| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： swzxb 于 2005/1/27 10:30:00 發(fā)布：
是AMD的FLASH |
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| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： cleanall 于 2005/1/27 15:15:00 發(fā)布：
有關(guān)測(cè)試 一般的電路在封裝后都要測(cè)試，你的同樣可以采用這種方法測(cè)試，可以與樣品對(duì)比在同樣激勵(lì)下兩個(gè)電路的輸出波形是否一致，如只是簡單判斷，可以將激勵(lì)簡單點(diǎn)。 |
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| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： swzxb 于 2005/1/28 9:16:00 發(fā)布：
不知國內(nèi)是否有專門提供IC測(cè)試的機(jī)構(gòu)或者單位？ |
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| 9樓： | >>參與討論 |
| 作者： code631 于 2005/2/1 16:34:00 發(fā)布：
不明白 既然有標(biāo)號(hào)，查一下網(wǎng)上的databook不就可以了？ |
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| 10樓： | >>參與討論 |
| 作者： clliu 于 2005/2/22 18:42:00 發(fā)布：
國內(nèi)現(xiàn)在很多專門的測(cè)試機(jī)構(gòu) 比如無錫泰思特主要中測(cè)，北京的航天2院檢測(cè)中心、航天一院檢測(cè)中心等。象一些測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)單位也做測(cè)試，比如北京的科力測(cè)試等公司 |
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| 11樓： | >>參與討論 |
| 作者： cleanall 于 2005/2/23 14:48:00 發(fā)布：
江陰長電應(yīng)該可測(cè) 需自己提供測(cè)試代碼。 |
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| 12樓： | >>參與討論 |
| 作者： like1982 于 2005/3/8 8:49:00 發(fā)布：
深圳安博電子 可以測(cè)試 http://www.ablesz.com/ywfw.htm |
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