改進的鉑電阻溫度檢測器電路
出處:維庫電子市場網(wǎng) 發(fā)布于:2024-10-09 16:59:41 | 448 次閱讀

圖 1通過R8 向PRTD 恒定勵磁電流反饋環(huán)路正反饋來消除非線性。 A2 的 10 倍增益可減少激勵,從而將自熱誤差降低 100 倍。
A1 的內(nèi)置 2.5V 精密基準與附帶的放大器相結合,形成恒流激勵反饋環(huán)路(下文將詳細介紹)。后續(xù)放大可將激發(fā)強度從約 2.5 mA 降低十倍至 250 A,同時將自發(fā)熱從約 1 mW 降低至約 10 W,成倍降低,并按比例降低相關測量誤差。電流消耗的減少使預期電池壽命延長了六倍,這也很好。
由此產(chǎn)生的 100 V/ ° C PRTD 信號由 A2 提升至原始萬用表讀數(shù)兼容的 1 mV/ ° C。R1 提供 0 ° C 橋零調(diào)整,而 R2 校準 100 ° C時的增益。Nick的 DI包括一個漂亮的校準文章在這里應該和他原來的一樣有效。
誠然,4310 的通用級規(guī)格(例如 500V 典型輸入偏移(如果未補償 5 o C 誤差則相當于))似乎不適合此類精密應用。但是,當您調(diào)整 R1 以使電橋歸零時,您同時也使 A2 歸零。所以,畢竟已經(jīng)足夠好了。
雙放大器拓撲的一個意想不到的額外好處是可以輕松實現(xiàn)二階 Callendar-Van Dusen 非線性校正。通過R8 到激勵環(huán)路的正反饋將偏置增加 150 ppm/ o C。這就是將 0 o C 至 100 o C 響應線性化到優(yōu)于 +/-0.1 o C所需的全部。
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