模擬 CMOS 逆變器的開關(guān)功耗
出處:維庫電子市場(chǎng)網(wǎng) 發(fā)布于:2024-05-22 16:03:03 | 944 次閱讀
圖 1 顯示了我們將使用的基本 LTspice 逆變器原理圖。

圖 1. CMOS 反相器的 LTspice 實(shí)現(xiàn)?! ≡诖藢?shí)現(xiàn)中,我們使用LTspice 組件庫中的nmos4和pmos4 MOSFET。指定 FET 的長度和寬度非常簡(jiǎn)單 - 只需右鍵單擊電路符號(hào),LTspice 將打開圖 2 中的窗口。

圖 2.在 LTspice 中指定 MOSFET 尺寸。
我們將采用老式方法(該工藝節(jié)點(diǎn)于 2000 年代初引入),并對(duì)兩個(gè) MOSFET 使用 90 nm 長度。對(duì)于 NMOS,我選擇了 150 nm 寬度。PMOS 寬度遵循經(jīng)驗(yàn)法則,即它應(yīng)比 NMOS 寬約 2.5 倍?! ☆~外的寬度補(bǔ)償了 PMOS 晶體管的較低遷移率,有助于均衡反相器的上升時(shí)間和下降時(shí)間。您可以分別在圖 3 和圖 4 中看到下降和上升輸出轉(zhuǎn)換。


圖 4.模擬 CMOS 反相器從低到高的輸出轉(zhuǎn)換。上升時(shí)間(10% 到 90%)為 390 納秒。
您可能已經(jīng)注意到,盡管我上面說過,該逆變器的上升時(shí)間和下降時(shí)間并不相等。相反,電壓圖記錄了 610 ns 的下降時(shí)間和 390 ns 的上升時(shí)間。默認(rèn) LTspice 模型庫中的 NMOS 和 PMOS 晶體管具有與我預(yù)期不同的電氣性能特性。
模擬充電和放電電流
CMOS 反相器的動(dòng)態(tài)功耗與邏輯狀態(tài)之間過渡階段期間流動(dòng)的兩種類型的電流相關(guān)。在本文中,我們僅討論一個(gè):電容充電和放電所需的電流。為了幫助我們檢查這一點(diǎn),我在原始示意圖中添加了以下內(nèi)容:
一個(gè)小電容。這表示輸出電壓變化時(shí)必須充電的負(fù)載電容。
一個(gè)非常大的電阻。這代表連接到逆變器輸出端子的高阻抗組件?! ⌒略韴D如圖 5 所示。請(qǐng)記住,在實(shí)際電路中,輸出電容不僅僅是輸出節(jié)點(diǎn)上的單個(gè)電容。寄生電容和內(nèi)部電容也會(huì)影響總輸出電容。

LTspice 逆變器具有輸出電容和負(fù)載電阻。
圖 5.具有輸出電容和負(fù)載電阻的 LTspice 逆變器。圖 6 中的紅色跡線顯示了在低到高輸出轉(zhuǎn)換期間流入該反相器V OUT節(jié)點(diǎn)的電流。我通過按住 Alt 鍵并單擊通向 C1 和 R1 的電線將其添加到圖中。這是您可能沒有意識(shí)到的一個(gè)方便的 LTspice 技巧 — 您可以使用 Alt + 單擊(或 Cmd + 單擊,如果您使用的是 Mac)來測(cè)量流過電線任何部分的電流?! 牡偷礁咻敵鲛D(zhuǎn)換期間的瞬態(tài)電流。

瞬態(tài)兩側(cè)的穩(wěn)態(tài)電流可以忽略不計(jì)。在瞬變之前,它基本上為零,因?yàn)閂 OUT處于地電位。隨著V OUT增加,大量電流必須從VDD流出并流經(jīng) PMOS 晶體管以對(duì) C1 充電。瞬態(tài)過后,V OUT達(dá)到新的穩(wěn)態(tài)值 V DD。由于 R1 電阻太大,電流再次極低(約 18 nA)。
上圖中的電流被報(bào)告為正,因?yàn)?LTspice 假設(shè)從 PMOS 漏極流出以給 C1 充電的電流為正。下一個(gè)圖(圖 7)顯示了從高到低的輸出轉(zhuǎn)換。由于放電電流流向另一個(gè)方向,因此被報(bào)告為負(fù)?! 「叩降洼敵鲛D(zhuǎn)換期間的瞬態(tài)電流。

當(dāng)它們流經(jīng) PMOS 或 NMOS 轉(zhuǎn)換器的電阻時(shí),這些瞬態(tài)電流會(huì)導(dǎo)致能量損失。這種損耗在前一篇文章“ CMOS 逆變器的功耗”中進(jìn)行了解釋。
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